一种多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法技术

本发明专利技术公开了一种多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法，包括：在两片相同的、表面附着有液晶取向层的玻璃基底上分别制备基准样片和被测样片，其中基准样片仅旋涂一层液晶聚合物薄膜，被测样片旋涂N层液晶聚合物薄膜，N＝K+1；K为待测试光谱透过率的液晶聚合物薄膜的层数，K≥1；保持基准样片和被测样片二者的薄膜朝向和液晶取向方向一致，通过分光光度计测试基准样片的光谱透过率T<subgt;0</subgt;(λ)，被测样片的光谱透过率T<subgt;s</subgt;(λ)；根据T<subgt;0</subgt;(λ)和T<subgt;s</subgt;(λ)，获取K层液晶聚合物薄膜的光谱透过率T<subgt;Sk</subgt;(λ)。本发明专利技术能够在测试多层液晶聚合物薄膜的光谱透过率时，排除玻璃基底及其附着的液晶取向层的影响，测试方法简单实用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光电测试，涉及光学薄膜光谱透过率测试方法，特别涉及一种多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法。

技术介绍

1、随着几何相位(也称pb相位)的理论研究取得突破，基于液晶聚合物薄膜材料的pb相位光学器件成为研究热点，液晶偏振光栅、液晶透镜、液晶透镜阵列、液晶q波片、液晶叉型光栅等新型pb相位光学器件得到开发。这些光学器件在实际应用之前，液晶聚合物薄膜材料的某些光学性能参数需要进行精确测量，所获得的基础数据可以更好地支撑其应用的探索。液晶聚合物薄膜的光谱透过率就是其中一项很重要的光学性能参数，特别是用在高能激光和高功率激光的场合，薄膜的光谱透过率数据将发挥重要的参考作用。

2、目前，主流的薄膜光谱透过率测试方法，是将薄膜直接放在分光光度计的光路中进行测试，可以很方便的得到薄膜的光谱透过率参数。

3、然而，对于液晶聚合物薄膜来说，直接采用分光光度计进行光谱透过率测试会有较大的困难。首先，用于pb相位光学器件的液晶聚合物薄膜通常采用匀胶法制备而成，将少量预聚物溶液滴在一个预先涂有液晶取向层的玻璃基板上，旋涂后烘干，然后紫外固化，最本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法，其特征在于，K层液晶聚合物薄膜的光谱透过率TSk(λ)计算公式为：TSk(λ)＝Ts(λ)/T0(λ)。

3.根据权利要求1所述的多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法，其特征在于，基准样片和被测样片的光谱透过率由同一个分光光度计测试。

4.根据权利要求3所述的多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法，其特征在于，首先，将基准样片放入分光光度计的测试光路中，记录基准样片的薄膜朝向和液晶取向方向，采集基准样片的光谱透过率T0(λ)；然...

【技术特征摘要】

1.一种多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法，其特征在于，k层液晶聚合物薄膜的光谱透过率tsk(λ)计算公式为：tsk(λ)＝ts(λ)/t0(λ)。

3.根据权利要求1所述的多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法，其特征在于，基准样片和被测样片的光谱透过率由同一个分光光度计测试。

4.根据权利要求3所述的多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法，其特征在于，首先，将基准样片放入分光光度计的测试光路中，记录基准样片的薄膜朝向和液晶取向方向，采集基准样片的光谱透过率t0(λ)；然后，取出基准样片，放入被测样片，保持被测样片的薄膜朝向与基准样片的薄膜朝向一致，保持被测样片的液晶取向方向与基准样片的液晶取向方向一致，采集被测样片的光谱透过率ts(λ)。

5.根据权利要求1所述的多层液晶聚合物薄膜光谱透过率测试方法，其特征在于，玻璃基底包括...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐林，梁锡彤，徐雪，
申请(专利权)人：江苏科技大学，
类型：发明
国别省市：