System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底及其制备方法技术_技高网

一种基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底及其制备方法技术

技术编号:43971703 阅读:10 留言:0更新日期:2025-01-10 19:59
本发明专利技术公开了一种基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底及其制备方法,属于纳米材料学和光学分析技术领域。两层贵金属纳米粒子通过吸气过滤先后沉积于亲水性微孔聚合物膜指定区域得到纳米塑料检测SERS基底。本发明专利技术利用亲疏水聚合物膜及其微孔结构,依次将不同尺寸银纳米粒子域聚集至亲水性聚合物膜表面,并实现了水溶液中纳米塑料的高灵敏检测,克服了尺寸微小导致的纳米塑料检测难度大问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于纳米材料学和光学分析,具体涉及一种基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用sers基底及其制备方法。


技术介绍

1、塑料污染已成为全球性环境威胁。纳米塑料由塑料制品分解产生,尺寸在1~1000nm。由于尺寸极其微小,纳米塑料检测难度高,潜在危险大。现有研究表明,纳米塑料不仅可以通过饮食、呼吸和皮肤接触等途径进入人体,甚至可以穿透胎盘屏障进入胎儿组织,影响下一代生命健康。然而,由于小尺寸、低含量、无特异性等特征,纳米塑料的来源、分布、环境丰度等信息知之甚少。开发一种适用于纳米塑料定量评估的方法,对于研究人类生命健康保护具有重要意义。

2、表面增强拉曼散射(sers)利用纳米尺度粗糙金属的局域表面等离激元共振(lspr)放大拉曼信号,既具有无损分析和“指纹”特性,又显著提高了检测灵敏度,已被证明是实现痕量物质测定的有力分析手段。金属纳米阵列是由金属纳米粒子在载体表面均匀分散或紧密堆积得到的高效sers增强基底,通过缩小颗粒间距提高lspr耦合,以在间隙处形成热点放大区域,更好地增强拉曼信号。然而,基于金属纳米阵列sers基底完成实际样本中的纳米塑料高灵敏检测仍然具有挑战性。因此,发展一种基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测sers基底非常重要。


技术实现思路

1、本部分的目的在于概述本专利技术的实施例的一些方面以及简要介绍一些较佳实施例。在本部分以及本申请的说明书摘要和专利技术名称中可能会做些简化或省略以避免使本部分、说明书摘要和专利技术名称的目的模糊,而这种简化或省略不能用于限制本专利技术的范围。

2、鉴于上述和/或现有技术中存在的问题,提出了本专利技术。

3、因此,本专利技术的目的是,克服现有技术中的不足,提供一种基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测sers基底,所述纳米塑料检测sers基底为双层贵金属纳米粒子结构;

4、其中,下层为贵金属纳米粒子a,上层为贵金属纳米粒子b;所述贵金属纳米粒子a的尺寸为150nm~500nm,贵金属纳米粒子b的尺寸为10nm~200nm;所述金属纳米粒子a的尺寸大于金属纳米粒子b的尺寸。

5、作为本专利技术所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测sers基底一种优选方案,其中:所述。

6、作为本专利技术所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测sers基底一种优选方案,其中:所述贵金属包括金或银中的一种。

7、作为本专利技术所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测sers基底一种优选方案,其中:所述纳米粒子的形状包括纳米球状、纳米棒状、纳米立方状或者纳米星状中的一种。

8、作为本专利技术所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测sers基底一种优选方案,其中:所述贵金属纳米粒子a与贵金属纳米粒子b的体积比为1~20∶12~25

9、本专利技术的目的是,克服现有技术中的不足,提供一种基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测sers基底的制备方法。

10、为解决上述技术问题,本专利技术提供了如下技术方案:包括,

11、制备不同尺寸的贵金属纳米粒子溶液;

12、将已打孔的疏水性微孔聚合物膜、亲水性微孔聚合物膜依次叠放至过滤器支架上;

13、毛细管取样金属纳米粒子a溶液至亲水性微孔聚合物膜上,在亲水性微孔聚合物膜与疏水性微孔聚合物膜开孔重合位置吸气滤除溶液中水分;

14、毛细管取样金属纳米粒子b溶液滴加至金属纳米粒子a域聚集处,并再次在亲水性微孔聚合物膜与疏水性微孔聚合物膜开孔重合位置吸气滤除溶液中水分,得到纳米塑料检测用sers基底。

15、作为本专利技术所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测sers基底的制备方法一种优选方案,其中:所述微孔聚合物膜包括聚偏氟乙烯滤膜、聚四氟乙烯滤膜或者聚醚砜滤膜中的一种。

16、作为本专利技术所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测sers基底的制备方法一种优选方案,其中:所述疏水性微孔聚合物膜的开孔的孔径为1mm~5mm。

17、作为本专利技术所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测sers基底的制备方法一种优选方案,其中:所述亲水性微孔聚合物膜的微孔尺寸为0.1μm~0.45μm。

18、本专利技术的目的是,克服现有技术中的不足,提供一种基于金属纳米粒子域聚集的sers基底在纳米塑料检测中的应用。

19、本专利技术有益效果:

20、(1)本专利技术采用吸气过滤技术,在亲水性微孔聚合物膜表面依次沉积不同尺寸金属纳米粒子,提高了单一尺寸金属纳米粒子的增强效果,使纳米塑料高灵敏检测成为可能。

21、(2)本专利技术通过开孔疏水性微孔聚合物膜与亲水性微孔聚合物膜叠加,将金属纳米粒子限制至疏水性微孔聚合物膜的开孔区域,减少金属纳米粒子消耗,提高金属纳米粒子聚集效率。

22、(3)本专利技术操作简单,成本低廉,灵敏度高,均一性好,为得到纳米塑料检测sers基底提供了简便高效的方法。

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【技术保护点】

1.一种基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底,其特征在于:所述纳米塑料检测SERS基底为双层贵金属纳米粒子结构;

2.如权利要求1所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底,其特征在于:所述贵金属包括金或银中的一种。

3.如权利要求1所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底,其特征在于:所述纳米粒子的形状包括纳米球状、纳米棒状、纳米立方状或者纳米星状中的一种。

4.如权利要求1所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底,其特征在于:所述贵金属纳米粒子A与贵金属纳米粒子B的体积比为1~20∶12~25。

5.如权利要求1~4任一所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底的制备方法,其特征在于:包括,

6.如权利要求5所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底的制备方法,其特征在于:所述微孔聚合物膜包括聚偏氟乙烯滤膜、聚四氟乙烯滤膜或者聚醚砜滤膜中的一种。

7.如权利要求5所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底的制备方法,其特征在于:所述疏水性微孔聚合物膜的开孔的孔径为1mm~5mm。

8.如权利要求5所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用SERS基底,其特征在于:所述亲水性微孔聚合物膜的微孔尺寸为0.1μm~0.45μm。

9.一种如权利要求5所述方法制备的基于金属纳米粒子域聚集的SERS基底在纳米塑料检测中的应用。

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【技术特征摘要】

1.一种基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用sers基底,其特征在于:所述纳米塑料检测sers基底为双层贵金属纳米粒子结构;

2.如权利要求1所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用sers基底,其特征在于:所述贵金属包括金或银中的一种。

3.如权利要求1所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用sers基底,其特征在于:所述纳米粒子的形状包括纳米球状、纳米棒状、纳米立方状或者纳米星状中的一种。

4.如权利要求1所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳米塑料检测用sers基底,其特征在于:所述贵金属纳米粒子a与贵金属纳米粒子b的体积比为1~20∶12~25。

5.如权利要求1~4任一所述的基于金属纳米粒子域聚集的纳...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨朝雁詹籴炜郝天宇庆业明
申请(专利权)人:南京邮电大学
类型:发明
国别省市:

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