一种基于变束光路的激光测量设备及其电子设备制造技术

技术编号:43965617 阅读:21 留言:0更新日期:2025-01-07 21:51
本发明专利技术提供了一种基于变束光路的激光测量设备及其电子设备,基于变束光路的激光测量设备包括:光源、变束光路和物镜,物镜的直径与光源的数值孔径成正比,变束光路包括第一准直镜和第二准直镜,第一准直镜位于第二准直镜与物镜之间,第一准直镜的焦距小于第二准直镜的焦距。根据本实施例的技术方案,能够以变束光路的焦距比作为物镜焦距的缩小系数,从而在物镜直径不变的情况下减少物镜的焦距,在调焦过程中,变束光路的焦距比能够放大聚焦点的距离变化幅度,从而减少调焦所需要的物点调节距离,简化激光测量设备的内部结构,降低成本。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于光学,尤其涉及一种基于变束光路的激光测量设备及其电子设备


技术介绍

1、激光雷达是以发射激光束探测目标的位置、速度等特征量的雷达系统,常用于激光测风、激光测距、激光扫描等领域。激光雷达的工作原理是向目标发射探测信号(激光束),然后将接收到的从目标反射回来的信号(目标回波)与发射信号进行比较,作适当处理后,就可获得目标的有关信息,如目标距离、方位、高度、速度、姿态、甚至形状等参数。

2、常见的激光雷达是由激光发射机、光学接收机、转台和信息处理系统等组成,在激光发射机的光学组件中,物镜的数值孔径受制于光源,通常为光纤数值孔径,若为了实现高分辨率配置大口径物镜,大口径物镜的焦距较长,导致整体设备的尺寸增加,很难保持光路的机械稳定性,而且,为了调焦所需要调节的物点距离过大,导致激光测量设备的内部结构复杂、庞大、成本高,而且不易实现。


技术实现思路

1、本专利技术实施例提供了一种基于变束光路的激光测量设备及其电子设备,能够缩短物镜的焦距,减少调焦所需要的物点调节距离,简化激光测量设备的内部结本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于变束光路的激光测量设备,其特征在于,包括:光源、变束光路和物镜,所述物镜的直径与所述光源的数值孔径成正比,所述变束光路包括第一准直镜和第二准直镜,所述第一准直镜位于所述第二准直镜与所述物镜之间,所述第一准直镜的焦距小于所述第二准直镜的焦距,所述物镜的焦距与直径满足以下关系:

2.根据权利要求1所述的基于变束光路的激光测量设备,其特征在于,还包括调焦装置,所述调焦装置用于驱动所述光源和所述变束光路移动。

3.根据权利要求1所述的基于变束光路的激光测量设备,其特征在于,所述光源包括激光器、环形器和探测器,所述环形器位于所述激光器与所述变束光路之间,所述探测...

【技术特征摘要】

1.一种基于变束光路的激光测量设备,其特征在于,包括:光源、变束光路和物镜,所述物镜的直径与所述光源的数值孔径成正比,所述变束光路包括第一准直镜和第二准直镜,所述第一准直镜位于所述第二准直镜与所述物镜之间,所述第一准直镜的焦距小于所述第二准直镜的焦距,所述物镜的焦距与直径满足以下关系:

2.根据权利要求1所述的基于变束光路的激光测量设备,其特征在于,还包括调焦装置,所述调焦装置用于驱动所述光源和所述变束光路移动。

3.根据权利要求1所述的基于变束光路的激光测量设备,其特征在于,所述光源包括激光器、环形器和探测器,所述环形器位于所述激光器与所述变束光路之间,所述探测器位于所述环形器的侧面,所述探测器的探测方向与所述激光器的出射方向垂直。

4.根据权利要求1至3任意一项所述的基于变束光路的激光测量设备,其特征在于,还包括本征参考信号采光机构,所述本征参考信号采光机构位于所述光源和所述变束光路之间,所述本征参...

【专利技术属性】
技术研发人员:任明春张建武
申请(专利权)人:广东维特斯光电有限公司
类型:发明
国别省市:

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