GaN基激光芯片及其制备方法技术

技术编号:43963246 阅读:28 留言:0更新日期:2025-01-07 21:48
本公开提供了一种GaN基激光芯片及其制备方法,该GaN基激光芯片至下而上依次包括:n型电极(20)、衬底(10)、n型限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、上波导层(15)、上限制层和p型电极(19);其中,上限制层至下而上依次包括:p型限制层(16)、电流扩展层(17)和空气层;p型限制层(16)两侧设有钝化层(18),空气层形成于p型电极(19)的中间,p型电极(19)在XY平面内的正投影不覆盖p型限制层(16)在XY平面内的正投影。本公开的GaN基激光芯片利用p型限制层(16)、电流扩展层(17)和空气层共同构成上限制层,增加激光器光场限制,减小激光器的模式损耗,并降低激光器的串联电阻。

【技术实现步骤摘要】

本公开涉及半导体光电器件,具体涉及一种gan基激光芯片及其制备方法。


技术介绍

1、gan基材料称为iii族氮化物材料(包括inn、gan、aln、ingan、algan等,禁带宽度范围为0.7~6.2ev),光谱覆盖了近红外到深紫外波段,被认为是继si、gaas之后的第三代半导体,在光电子学领域有重要的应用价值。gan激光器由n-algan、量子阱、p-algan组成异质结,其中p-algan不仅是空位注入层,还是光限制层。在gan基激光器结构中,p-algan的厚度一般在500nm以上以保障高光场限制因子。然而,由于p-algan杂质激活难,p-algan电阻率高,造成厚层p-algan电阻大。同时厚层p-algan增加外延层的应力,同时高温生长p-algan也会造成量子阱热退化,从而限制了gan基激光器的性能。


技术实现思路

1、有鉴于此,本公开第一方面提供了一种gan基激光芯片,其特征在于,至下而上依次包括:n型电极、衬底、n型限制层、下波导层、有源层、上波导层、上限制层和p型电极;其中,上限制层至下本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种GaN基激光芯片,其特征在于,至下而上依次包括:n型电极(20)、衬底(10)、n型限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、上波导层(15)、上限制层和p型电极(19);

2.根据权利要求1所述的GaN基激光芯片,其特征在于,所述p型限制层(16)的材料为AlGaN,生长温度为900~1200℃,厚度为50~200nm;

3.根据权利要求1所述的GaN基激光芯片,其特征在于,所述电流扩展层(17)的材料为ITO或其他折射率小于所述p型限制层(16)的金属材料,厚度为10~100nm;

4.根据权利要求1所述的GaN基激光芯片,其特征在...

【技术特征摘要】

1.一种gan基激光芯片,其特征在于,至下而上依次包括:n型电极(20)、衬底(10)、n型限制层(12)、下波导层(13)、有源层(14)、上波导层(15)、上限制层和p型电极(19);

2.根据权利要求1所述的gan基激光芯片,其特征在于,所述p型限制层(16)的材料为algan,生长温度为900~1200℃,厚度为50~200nm;

3.根据权利要求1所述的gan基激光芯片,其特征在于,所述电流扩展层(17)的材料为ito或其他折射率小于所述p型限制层(16)的金属材料,厚度为10~100nm;

4.根据权利要求1所述的gan基激光芯片,其特征在于,所述钝化层(18)的材料为二氧化硅或氮化硅,厚度与所述p型限制层(16)的厚度相同;

5.根据权利要求1所述的gan基激光芯片,其特征在于,所述p型电极(19)的位置...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨静赵德刚张宇恒梁锋刘宗顺
申请(专利权)人:中国科学院半导体研究所
类型:发明
国别省市:

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