物理量测量装置制造方法及图纸

本公开的目的是提供使得即使在被测量流体中包含水滴的高湿度环境中也能够以良好的稳定性测量气体的流量或气体的成分的浓度的物理量测量装置。物理量测量装置(22)包括流路主体(11)、流量测量单元、上游开口(17)、下游开口(18)和副流路(13)。流路主体(11)包括主流路(9)。流量测量单元放置在主流路(9)中。上游开口(17)放置在主流路(9)的上游。下游开口(18)放置在主流路(9)的下游。副流路(13)放置在主流路(9)的外侧以使上游开口(17)和下游开口(18)彼此连接。副流路(13)具有用于减小流路的截面面积的缩窄部(27)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及用于在水滴不会对包含水的流体产生影响的情况下、测量气体的流量或气体中所包含的成分的浓度的物理量测量装置。

技术介绍

1、专利文献1公开了用于在水滴不会对包含水的流体产生影响的情况下、测量流体的流量或流体中所包含的成分的浓度的物理量测量装置。在该测量装置中，被测量流体被分为转向主流路(在该主流路上，假定对物理量进行测量)的流和转向副流路(该副流路针对主流路被设置作为旁路通路，并且在该副流路上，假定不对物理量进行测量)的流，然后流体的这两个流在下游点处再次汇合。在这种情况下，被测量流体中所包含的水滴通过副流路流动。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1：日本特开2022-25751号公报

技术实现思路

1、本公开的目的是提供一种物理量测量装置，该物理量测量装置使得即使在正在流入的流体(诸如气体等)中包含凝结露水，也不仅能够在高湿度环境中精确地测量气体的流量或浓度，而且还能够确保针对凝结露水的路径。

2、根据本公开的物理量测量装置包括流路主体、流量本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种物理量测量装置，包括：

2.根据权利要求1所述的物理量测量装置，其中，

3.根据权利要求1或2所述的物理量测量装置，其中，

4.根据权利要求1至3中任一项所述的物理量测量装置，在所述主流路上包括温度传感器和压力传感器，所述温度传感器被配置为测量所述流体的温度，所述压力传感器被配置为测量所述流体的压力，

5.根据权利要求4所述的物理量测量装置，还包括湿度传感器，所述湿度传感器被配置为测量所述流体的湿度，

6.根据权利要求1至5中任一项所述的物理量测量装置，其中，

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种物理量测量装置，包括：

2.根据权利要求1所述的物理量测量装置，其中，

3.根据权利要求1或2所述的物理量测量装置，其中，

4.根据权利要求1至3中任一项所述的物理量测量装置，在所述主流路上包括温度传感器和压力传感器，所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：小西良平，三好麻子，中林裕治，佐藤真人，松田正誉，高仓裕也，
申请(专利权)人：松下知识产权经营株式会社，
类型：发明
国别省市：