【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电磁特性和天线近场测试技术，特别是涉及一种基于超宽带平面波合成方法的多探头近场电磁特性测试系统及方法。
技术介绍
1、面波测量方法是微波测量领域中最常见的测试方法。平面波测试方法可分为近场测量和远场测量两大类。由于远场测量受到远场条件的限制，使得平面波近场测量越来越成为微波测量领域的主流方法。
2、目前的近场测量方法主要分为球面近场、柱面近场或平面近场。主要通过平面波探头在被测物的近场区进行扫描采样，并经过数据的近远场变换，获得待测物的远场电磁参数。但这类测试方法对大尺寸目标的测量无能为力。
技术实现思路
1、专利技术目的：本专利技术的一个目的是提供一种基于超宽带平面波合成方法的实现目标双站/多站的多平面波探头近场电磁特性测试系统。
2、本专利技术的另一个目的是提供一种基于所述系统的近场电磁特性测试方法。
3、技术方案：本专利技术所述的基于超宽带平面波合成方法的多探头近场电磁特性测试系统，包括测试暗室、多个超宽带平面波合成器、一个或多个超宽...
【技术保护点】
1.一种基于超宽带平面波合成方法的多探头近场电磁特性测试系统，其特征在于，包括测试暗室(1)、多个超宽带平面波合成器(2)、一个或多个超宽带平面波合成器安装支架(3)和被测物(5)，所述一个或多个超宽带平面波合成器安装支架(3)设置于测试暗室(1)内，所述多个超宽带平面波合成器(2)设置于一个或多个超宽带平面波合成器安装支架(3)上，所述被测物(5)设置于一个支架(3)内或设置于多个支架(3)之间；多个超宽带平面波合成器(2)中至少一个作为发射天线，其发射平面波探头用于向被测物(5)发射均匀平面波，其余的超宽带平面波合成器(2)作为接收天线，其接收平面波探头用于接收被...
【技术特征摘要】
1.一种基于超宽带平面波合成方法的多探头近场电磁特性测试系统，其特征在于，包括测试暗室(1)、多个超宽带平面波合成器(2)、一个或多个超宽带平面波合成器安装支架(3)和被测物(5)，所述一个或多个超宽带平面波合成器安装支架(3)设置于测试暗室(1)内，所述多个超宽带平面波合成器(2)设置于一个或多个超宽带平面波合成器安装支架(3)上，所述被测物(5)设置于一个支架(3)内或设置于多个支架(3)之间；多个超宽带平面波合成器(2)中至少一个作为发射天线，其发射平面波探头用于向被测物(5)发射均匀平面波，其余的超宽带平面波合成器(2)作为接收天线，其接收平面波探头用于接收被测物(5)反射回来的均匀平面波，实现对被测物(5)双站或多站电磁特性的测试。
2.根据权利要求1所述的一种基于超宽带平面波合成方法的多探头近场电磁特性测试系统，其特征在于，所述一个或多个超宽带平面波合成器安装支架(3)包括弧形、圆形和多边形。
3.根据权利要求1所述的一种基于超宽带平面波合成方法的多探头近场电磁特性测试系统，其特征在于，所述一个或多个超宽带平面波合成器安装支架(3)包括平面和曲面。
4.根据权利要求1任一项所述的一种基于超宽带平面波合成方法的多探头近场电磁特性测试系统，其特征在于，所述多个超宽带平面波合成器安装支架(3)中任意两个支架(3)所在平面之间的夹角为φ，0≤φ≤180°。
5.根据权利要求1任一项所述的一种基于超宽带平面波合成方法的多探头近场电磁特性测试系统，其特征在于，所述一个或多个超宽带平面波合成器安装支架(3)均匀排布于测试暗室(1)内，所述多个超宽带平面波合成器(2)均匀设置于所述一个或多个超...
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