一种能谱测量系统和能谱测量系统的解谱方法技术方案

本申请实施例提供了一种能谱测量系统和能谱测量系统的解谱方法。所述能谱测量系统包括能谱测量装置，所述能谱测量装置包括屏蔽组件、多个测量组件和吸收片组件。所述屏蔽组件具有安装腔，所述安装腔的一端敞开，以形成用于供X射线进入的入射端口。所述测量组件包括热释光剂量计。所述吸收片组件包括第一吸收片和多个第二吸收片，所述第一吸收片设置在所述入射端口的外侧，所述第二吸收片设置在所述安装腔内，所述第一吸收片与相邻的所述第二吸收片之间设置有所述测量组件，且相邻所述第二吸收片之间分别设置有所述测量组件，所述第一吸收片和所述第二吸收片的材质相异。本申请实施例的能谱测量系统测量效果好。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及射线测量，特别涉及一种能谱测量系统和能谱测量系统的解谱方法。

技术介绍

1、x射线是一种频率很高的电磁波，频率范围为3×1016hz～3×1019hz，具有方向性好、单光子能量高、穿透能力强等特点。利用脉冲功率技术，可以实现x射线发生装置的参数调节功能，产生不同宽度和频率的脉冲x射线，形成脉冲x射线辐射场。脉冲x射线主要由x射线管、加速器等设备产生，脉冲宽度可以覆盖毫秒、微秒、纳秒等不同量级，广泛应用于医学诊断、射线探伤、安全检查及辐射防护等领域。

2、脉冲x射线辐射场能谱测量是进行相关防护量研究、辐射防护屏蔽设计和剂量评估等研究的必要前提。脉冲x射线能谱是x射线应用的重要指标，可用于脉冲辐射装置的结构优化和性能改善等，也可用于研究韧致辐射x射线和效应物间的作用关系。

3、相关技术中，脉冲x射线强度大、能谱范围宽、脉冲持续时间(即脉冲宽度)短，相关技术中的能谱测量系统在复杂环境下对脉冲x射线进行测量的难度较大，测量效果差。

技术实现思路

1、有鉴于此，本申请实施例的主要目的在本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种能谱测量系统，其特征在于，所述能谱测量系统包括能谱测量装置，所述能谱测量装置包括屏蔽组件、多个测量组件和吸收片组件；

2.根据权利要求1所述的能谱测量系统，其特征在于，所述第一吸收片的材质为PMMA；和/或，

3.根据权利要求1所述的能谱测量系统，其特征在于，所述第一吸收片包括多层沿所述入射端口的开口方向叠设的第一子吸收片；和/或，

4.根据权利要求1-3任意一项所述的能谱测量系统，其特征在于，所述测量组件还包括聚四氟乙烯箔，所述聚四氟乙烯箔设置在各所述热释光剂量计靠近所述入射端口的一侧。

5.根据权利要求1-3任意一项所述的能谱测...

【技术特征摘要】

1.一种能谱测量系统，其特征在于，所述能谱测量系统包括能谱测量装置，所述能谱测量装置包括屏蔽组件、多个测量组件和吸收片组件；

2.根据权利要求1所述的能谱测量系统，其特征在于，所述第一吸收片的材质为pmma；和/或，

3.根据权利要求1所述的能谱测量系统，其特征在于，所述第一吸收片包括多层沿所述入射端口的开口方向叠设的第一子吸收片；和/或，

4.根据权利要求1-3任意一项所述的能谱测量系统，其特征在于，所述测量组件还包括聚四氟乙烯箔，所述聚四氟乙烯箔设置在各所述热释光剂量计靠近所述入射端口的一侧。

5.根据权利要求1-3任意一项所述的能谱测量系统，其特征在于，所述屏蔽组件包括第一屏蔽层和第二屏蔽层，所述第一屏蔽层具有所述安装腔和所述入射端口，所述第二屏蔽层套设在所述第一屏蔽层的外侧，所述第一屏蔽层和所述第二屏蔽层的材质相异；...

【专利技术属性】
技术研发人员：高飞，董璐琪，王菲菲，康跃龙，张可欣，
申请(专利权)人：中国原子能科学研究院，
类型：发明
国别省市：