【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及磨削加工领域,特别是涉及一种磨削加工方法及装置。
技术介绍
1、半导体信息技术的发展对载体材料的平面化提出了极高的要求,在集成电路制造中,材料的平面化直接影响到器件的性能和集成度。磨削是一种可实现材料平面化的精密加工方法,通过从工件上去除最少量的材料,以提供精细的光洁度和紧密的尺寸公差。通过精密磨削,可以实现半导体材料的高精度平面化,满足集成电路对材料表面平整度的严格要求,从而推动半导体器件性能的提升和集成度的增加。
2、请参阅图1,其为现有的一种磨削加工装置,包括磨削台1、磨头2、磨削液喷头3和夹紧机构,其中,夹紧机构包括垫块4和滑动块5。磨削台1的上表面为一平面度较高的平面,垫块4被放置在磨削台1的上表面,工件的待磨削面朝上水平放置在垫块4上,两个滑动块5设置在磨削台1的上表面两侧并可在磨削台1上滑动,两个滑动块5向工件滑动以夹紧工件,在进行磨削加工时,磨削液喷头3不断向工件喷出磨削液,通过磨头2在工件的待磨削表面上进行磨削作业。
3、平面度是表征材料表面的平面在所有方向上与理想平面的最大偏差。
...【技术保护点】
1.一种磨削加工方法,其特征在于:包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的磨削加工方法,其特征在于:所述步骤S11和S12之间中还包括步骤:在所述固态胶膜的上表面形成若干沟槽。
3.根据权利要求2所述的磨削加工方法,其特征在于:所述固态胶膜上表面的若干沟槽交错,在固态胶膜上表面形成若干正方形或三角形的接触区。
4.根据权利要求3所述的一种磨削加工方法,其特征在于:所述接触区数量为532~2128个/m²,沟槽宽度为0~5mm,深度为1~5mm。
5.根据权利要求3或4所述的磨削加工方法,其特征在于:所述步骤S11中,所述
...【技术特征摘要】
1.一种磨削加工方法,其特征在于:包括以下步骤:
2.根据权利要求1所述的磨削加工方法,其特征在于:所述步骤s11和s12之间中还包括步骤:在所述固态胶膜的上表面形成若干沟槽。
3.根据权利要求2所述的磨削加工方法,其特征在于:所述固态胶膜上表面的若干沟槽交错,在固态胶膜上表面形成若干正方形或三角形的接触区。
4.根据权利要求3所述的一种磨削加工方法,其特征在于:所述接触区数量为532~2128个/m²,沟槽宽度为0~5mm,深度为1~5mm。
5.根据权利要求3或4所述的磨削加工方法,其特征在于:所述步骤s11中,所述过渡板的上表面设有容胶槽,将热熔胶流体倒入并铺满所述容胶槽中,冷却后形成所述固态胶膜。
6.根据权利要求5所述的磨削加工方法,其特征在于:所述步骤s12中,加热待磨削工件,使待...
【专利技术属性】
技术研发人员:唐龙,丁晓罡,陈伟,张诚,徐根,
申请(专利权)人:湖南普照信息材料有限公司,
类型:发明
国别省市:
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。