基于参数自动修正的熔点检测方法和高精度熔点检测仪技术

技术编号:43923009 阅读:14 留言:0更新日期:2025-01-03 13:27
本发明专利技术公开了一种基于参数自动修正的熔点检测方法和高精度熔点检测仪,属于仪器仪表技术和图像识别技术领域。本发明专利技术通过根据温度和环境参数,计算补偿温度,再根据待测样品的温度参数和补偿温度,计算得到待测样品的熔点,相较于通过温度探头检测熔点,在计算过程中加入了环境参数和样本本身性质相关的温度参数,综合了环境和样本本身性质对检测结果置信度的影响;另外,由于放置槽内的温度变化会准确地反映在图像中,相较于温度探头,通过图像信息,获取温度参数和环境参数,避免了温度探头本身所产生的误差,从而提高了检测结果的置信度,相较于现有技术通过多次检测,减少了检测次数,进而且相较于现有技术,减少了测试时间,提高了测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及仪器仪表技术和图像识别,特别涉及一种基于参数自动修正的熔点检测方法和高精度熔点检测仪


技术介绍

1、根据物理化学的定义,物质的熔点是指该物质由固态变为液态时的温度。在有机化学领域中,熔点测定是辨认物质本性的基本手段,也是纯度测定的重要方法之一。因此,熔点测定仪在化学工业、医药研究中具有重要地位,是生产药物、香料、染料及其他有机晶体物质的必备仪器。

2、现有熔点测定仪在使用过程中,整个熔点仪的测试精度实际上是与环境、待测样本本身的性质等多种因素相关联的,任意因素都会导致测试结果的置信度受到影响;为了保证置信度,现有技术往往是采用测试多次,然后排除掉偏差较大的值,以保证置信度,但该方案增加了测试时间,降低了测试效率。


技术实现思路

1、为了解决现有技术的问题,本专利技术实施例提供了一种基于参数自动修正的熔点检测方法和高精度熔点检测仪。所述技术方案如下:

2、一方面,提供了一种基于参数自动修正的熔点检测方法,所述方法应用于一种高精度熔点仪,所述高精度熔点仪包括放置槽和温度探头本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于参数自动修正的熔点检测方法,其特征在于,所述方法应用于一种高精度熔点仪,所述高精度熔点仪包括放置槽和温度探头,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述识别所述图像信息中待测样品的温度参数包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述识别所述图像信息中待测样品的温度参数之后,所述方法还包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述识别所述图像信息中的环境参数包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述温度和所述环境参数,计算补偿温度包括:

6.根据权利要求5所述的...

【技术特征摘要】

1.一种基于参数自动修正的熔点检测方法,其特征在于,所述方法应用于一种高精度熔点仪,所述高精度熔点仪包括放置槽和温度探头,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述识别所述图像信息中待测样品的温度参数包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述识别所述图像信息中待测样品的温度参数之后,所述方法还包括:

4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,所述识别所述图像信息中的环境参数包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述根据所述温度和所述环境参数,计算补偿温度包括:

6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述根据...

【专利技术属性】
技术研发人员:胡建立
申请(专利权)人:上海佑科仪器仪表有限公司
类型:发明
国别省市:

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