【技术实现步骤摘要】
本技术涉及偏振玻璃测试，尤其涉及一种偏振玻璃测量载物架以及一种偏振玻璃测量装置。
技术介绍
1、偏振玻璃是一类具备光偏振效应的光学材料，其广泛应用于光隔离器、光调制器及激光器等光电器件上。针对这一类材料的制备，当前业内主流的制备方法为拉伸还原法。对含卤化银或卤化铜晶体的玻璃进行拉伸、还原处理，玻璃可获得内部高长径比阵列纳米银/铜结构。玻璃内高定向纳米银/铜单质外层电子在入射光波电磁场及电子库仑力作用下产生振荡，当入射光波长与振荡同频时，颗粒对光产生吸收，且颗粒的长轴和短轴对光的吸收不同。由米氏理论和c++模拟计算可知，当玻璃内纳米银颗粒长径比越大时，光吸收波段向红外移动。
2、当使用红外偏光显微镜对样品偏振层厚度进行微观观测时，由于显微镜起偏方向固定，观测时为获得较佳的观测视野，往往通过旋转样品载台以获得与显微镜起偏方向平行的消光角度，对样品进行旋转时，微小偏振角度偏差往往影响观测区明暗交界的清晰度；且由于当前常规近红外偏振玻璃厚度在0.12～0.2mm之间，当样品厚度面置于载玻片等透明载台上旋转时，样品与载台间小接触面使旋...
【技术保护点】
1.一种偏振玻璃测量载物架，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的偏振玻璃测量载物架，其特征在于，所述透光基台设置有下凹区，用于容纳所述双侧平行杆移动。
3.根据权利要求2所述的偏振玻璃测量载物架，其特征在于，所述透光基台的下凹深度b＞所述双侧平行杆的直径r，且所述下凹深度b+所述样品槽的深度c＜所述透光基台的厚度f。
4.根据权利要求1所述的偏振玻璃测量载物架，其特征在于，所述样品槽的宽度g＞所述偏振玻璃的厚度d，所述样品槽的深度c＜所述偏振玻璃的宽度h，所述样品槽的长度k＜所述透光基台的宽度j，且所述样品槽的长度k≥所述偏
【技术特征摘要】
1.一种偏振玻璃测量载物架，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的偏振玻璃测量载物架，其特征在于，所述透光基台设置有下凹区，用于容纳所述双侧平行杆移动。
3.根据权利要求2所述的偏振玻璃测量载物架，其特征在于，所述透光基台的下凹深度b＞所述双侧平行杆的直径r，且所述下凹深度b+所述样品槽的深度c＜所述透光基台的厚度f。
4.根据权利要求1所述的偏振玻璃测量载物架，其特征在于，所述样品槽的宽度g＞所述偏振玻璃的厚度d，所述样品槽的深度c＜所述偏振玻璃的宽度h，所述样品槽的长度k＜所述透光基台的宽度j，且所述样品槽的长度k≥所述偏振玻璃的长度l。
5.一种偏振玻璃测量装置，其特征在于，...
【专利技术属性】
技术研发人员：何勇涛，马晓，胡宇浩，陈新波，赵文琪，魏德玉，
申请(专利权)人：长飞光纤光缆股份有限公司，
类型：新型
国别省市：
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