基于多个光源的光散射测量制造技术

技术编号:43914111 阅读:22 留言:0更新日期:2025-01-03 13:21
本申请案的实施例涉及基于多个光源的光散射测量。在一些实例中,所述技术实施为一种设备,其包含第一光源和第二光源(120、130)、具有检测器输出的光检测器(110),以及具有耦合到所述检测器输出的处理输入和处理输出的处理电路(180)。所述第一光源(120或130)经配置以产生具有第一波长的第一光信号。所述第二光源(120或130)经配置以产生具有不同于所述第一波长的第二波长的第二光信号。所述光检测器(110)经配置以响应于所述第一光信号而在所述检测器输出处产生第一检测信号,并且响应于所述第二光信号而在所述检测器输出处产生第二检测信号。所述处理电路(180)经配置以响应于所述第一检测信号和所述第二检测信号而在所述处理输出处产生表示空气质量测量结果的第三信号。

【技术实现步骤摘要】

本申请案的实施例涉及空气质量感测,且更具体涉及基于多个光源的光散射测量


技术介绍

1、当光传播通过空间中的颗粒(例如,烟雾颗粒)并被空间中的颗粒散射时,可能发生光散射。光散射测量装置可以将光发射到空间中,并感测传播通过空间的光以测量光的散射(如果有的话)。基于测量结果,可以检测到空间中是否存在某些感兴趣的颗粒。


技术实现思路

1、在一些实例中,一种设备包含第一光源、第二光源、具有检测器输出的光检测器,以及具有处理输入和处理输出的处理电路,所述处理输入耦合到所述检测器输出。所述第一光源经配置以产生具有第一波长的第一光信号。所述第二光源经配置以产生具有第二波长的第二光信号,所述第二波长不同于所述第一波长。所述光检测器经配置以响应于所述第一光信号而在所述检测器输出处产生第一检测信号,并且响应于所述第二光信号而在所述检测器输出处产生第二检测信号。所述处理电路经配置以响应于所述第一检测信号和所述第二检测信号而在所述处理输出处产生表示空气质量测量结果的第三信号。

2、在一些实例中,一种方法包含用第一光源发射本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种设备,其包括:

2.根据权利要求1所述的设备,其中所述第三信号表示以下中的至少一者:颗粒的颗粒大小或质量浓度。

3.根据权利要求2所述的设备,其中所述处理电路经配置以:

4.根据权利要求2所述的设备,其中所述处理电路经配置以基于以下中的至少一者而确定所述颗粒大小:使颗粒大小和强度比相关的多项式函数,或颗粒大小与强度比之间的映射。

5.根据权利要求2所述的设备,其中所述处理电路经配置以基于所述颗粒大小而确定所述质量浓度。

6.根据权利要求2所述的设备,其中所述处理电路经配置以:

7.根据权利要求1所述的设备,其...

【技术特征摘要】

1.一种设备,其包括:

2.根据权利要求1所述的设备,其中所述第三信号表示以下中的至少一者:颗粒的颗粒大小或质量浓度。

3.根据权利要求2所述的设备,其中所述处理电路经配置以:

4.根据权利要求2所述的设备,其中所述处理电路经配置以基于以下中的至少一者而确定所述颗粒大小:使颗粒大小和强度比相关的多项式函数,或颗粒大小与强度比之间的映射。

5.根据权利要求2所述的设备,其中所述处理电路经配置以基于所述颗粒大小而确定所述质量浓度。

6.根据权利要求2所述的设备,其中所述处理电路经配置以:

7.根据权利要求1所述的设备,其中所述第一波长在红外光谱区中,并且所述第二波长在蓝色光谱区中。

8.根据权利要求1所述的设备,其中所述第一光源经定向为以在50到60度范围内的前向反向散射角度产生所述第一光信号,并且所述第二光源经定向为以在145到155度范围内的后向反向散射角度产生所述第二光信号。

9.根据权利要求1所述的设备,其中所述处理电路包括微控制器单元mcu,所述mcu包含控制器输入和控制器输出,所述控制器输入耦合到所述处理输入,且所述控制器输出耦合到所述处理输出,并且其中所述mcu经配置以:在所述控制器输入处接收所述第一检测信号和所述第二检测信号;并且在所述控制器输出处提供表示所述空气质量测量结果的所述第三信号。

10.一种设备,其包括:

11.根据权利要求10所述的设备,其中所述第三信号表示以下中的至少一者:颗粒的颗粒大小或质量浓度。

【专利技术属性】
技术研发人员:K·蔡沈柏宇盛钟延
申请(专利权)人:德州仪器公司
类型:发明
国别省市:

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