【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及端板检测,具体是涉及轨道式端板尺寸跳动检测装置。
技术介绍
1、现有的端板检测装置是一种专门用于检测轨道式端板尺寸跳动情况的精密设备,其主要功能是精确测量端板表面不同位置上的尺寸偏差以及跳动量,以确保端板的尺寸精度符合相关标准和使用要求。
2、但现有技术在具体使用时仍然存有以下的缺陷:1、现有技术利用激光扫描仪发射激光束扫描端板表面,根据反射光的时间或相位等信息来获取端板表面的三维形状数据,但是,激光扫描得到的数据处理较为复杂,需要通过复杂的算法将扫描数据转换为尺寸和跳动信息才能得出结果,虽然这种方式能获取大量数据,但缺乏一个简单直接的参照标准,只是单纯获取表面的点云数据,还需要后续通过复杂的数据处理和算法分析才能得出端部平面度公差。
3、2、并且现有技术在进行尺寸跳动检测时,要合理规划测量路径,对于圆形端板,一般采用圆周等距测量点的方式,测量点的数量要根据端板的尺寸和精度要求确定,例如,对于直径较大且精度要求较高的端板,需要均匀设置多个测量点,而对于方形或其他形状的端板,要确保测量点覆盖端板的关键
...【技术保护点】
1.轨道式端板尺寸跳动检测装置,用于对端板主体(14)进行尺寸全面检测处理,包括检测主机架(1),所述检测主机架(1)的内部安装有控制器(11),所述控制器(11)的下表面安装有检测仪(12),所述检测主机架(1)的内部对称安装有驱动组件(13),其特征在于:所述驱动组件(13)的侧壁设置有端面化检测机构(2),所述检测主机架(1)的内部设置有辅助自测机构(3);端面化检测机构(2)用于端部平面度公差的尺寸跳动检测,使得端板主体(14)检测结果直观表示;辅助自测机构(3)用于控制端板主体(14)的测量速度,合理规划测量路径。
2.根据权利要求1所述的轨道式
...【技术特征摘要】
1.轨道式端板尺寸跳动检测装置,用于对端板主体(14)进行尺寸全面检测处理,包括检测主机架(1),所述检测主机架(1)的内部安装有控制器(11),所述控制器(11)的下表面安装有检测仪(12),所述检测主机架(1)的内部对称安装有驱动组件(13),其特征在于:所述驱动组件(13)的侧壁设置有端面化检测机构(2),所述检测主机架(1)的内部设置有辅助自测机构(3);端面化检测机构(2)用于端部平面度公差的尺寸跳动检测,使得端板主体(14)检测结果直观表示;辅助自测机构(3)用于控制端板主体(14)的测量速度,合理规划测量路径。
2.根据权利要求1所述的轨道式端板尺寸跳动检测装置,其特征在于:所述端面化检测机构(2)包括安装于控制器(11)下表面的辅助仪(21),所述驱动组件(13)中的右侧轨道的外壁安装有摄像器(22),所述驱动组件(13)中的左侧轨道的外壁固定连接有展示主板(23),所述展示主板(23)的表面滑动连接有透明镜片(24)。
3.根据权利要求2所述的轨道式端板尺寸跳动检测装置,其特征在于:所述辅助仪(21)与检测仪(12)均由控制器(11)电性控制,所述辅助仪(21)与检测仪(12)位于同一竖直面,所述检测仪(12)对应于端板主体(14)偏心位置处,所述辅助仪(21)与端板主体(14)呈分开交错状态。
4.根据权利要求2所述的轨道式端板尺寸跳动检测装置,其特征在于:所述摄像器(22)、展示主板(23)以及透明镜片(24)三者均处于同一水平面,所述透明镜片(24)分别对应于展示主板(23)和摄像器(22)的正中心位置处。
5.根据权利要求2所述的轨道式端板尺寸跳动检测装置,其特征在于:所述透明镜片...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴慧明,吴祥龙,黄爱华,方小成,王连平,陈洋洋,刘江,蔺凯,
申请(专利权)人:杭州泓芯微半导体有限公司,
类型:发明
国别省市:
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