时钟失效检测方法、装置、系统、存储介质和程序产品制造方法及图纸

技术编号:43909132 阅读:15 留言:0更新日期:2025-01-03 13:17
本申请涉及一种时钟失效检测方法、装置、系统、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:通过获取多路时钟选择信号,从多路时钟选择信号中确定出信号值不为零的比特位,将比特位对应的时钟作为待测时钟,采用时钟分频比对待测时钟的输出信号进行预分频处理,读取处理后的输出信号在预设时间内的频率计数结果,响应于频率计数结果不满足预设阈值,生成与待测时钟对应的时钟失效结果。采用本方法能够利用对输出信号的预分频处理,提高频率计数结果的检测精度,从而提高时钟失效检测的准确率,覆盖更多样的时钟失效检测场景。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及芯片时钟检测,特别是涉及一种时钟失效检测方法、装置、系统、存储介质和计算机程序产品。


技术介绍

1、系统级芯片(system on chip,简称soc芯片)的运行安全一般和时钟运行状态相关。一旦出现时钟频率低于或高于正常范围,甚至时钟消失的情况时,容易导致系统级芯片的电路无法正常工作。因此,需要对系统级芯片进行时钟失效检测。

2、系统级芯片的时钟一般来源于外部时钟源和/或内部时钟源。外部时钟源是一种基于晶振实现的时钟源,能够提供稳定而准确的时钟信号。内部时钟源是一种基于内部电阻电容振荡器实现的时钟源,具有外围电路简单,部署成本低的优点。目前常用的时钟失效检测手段,一般通过在固定时间或者固定待测时钟周期内,对一个已知频率的基准时钟进行频率计数,然后将基准时钟的频率计数值与外部时钟源和/或内部时钟源的频率计数值进行比较,从而确定待测时钟是否失效。

3、然而,随着不同应用对时钟频率需求的变化,出现了对时钟源产生的时钟进行多级倍频(一般通过锁相环phrase locked loop实现)和分频处理(譬如奇数分频、偶数分频和小数分本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种时钟失效检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述多路时钟选择信号中确定出信号值不为零的比特位,将所述比特位对应的时钟作为待测时钟,采用时钟分频比对所述待测时钟的输出信号进行预分频处理,读取处理后的所述输出信号在预设时间内的频率计数结果,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设阈值的确定方法包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,当所述参考时钟在所述多路选择信号中对应的信号值不为零时,所述方法还包括...

【技术特征摘要】

1.一种时钟失效检测方法,其特征在于,所述方法包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述从所述多路时钟选择信号中确定出信号值不为零的比特位,将所述比特位对应的时钟作为待测时钟,采用时钟分频比对所述待测时钟的输出信号进行预分频处理,读取处理后的所述输出信号在预设时间内的频率计数结果,包括:

3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:

4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述预设阈值的确定方法包括:

5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,当所述参考时钟在所述多路选择信号中对应的信...

【专利技术属性】
技术研发人员:徐嘉钢黄松陈志军
申请(专利权)人:苏州旗芯微半导体有限公司
类型:发明
国别省市:

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