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一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测方法及系统技术方案

技术编号:43897248 阅读:15 留言:0更新日期:2025-01-03 13:10
本发明专利技术提出了一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测方法及系统,包括:地铁隧道模拟单元及设置在地铁隧道模拟单元中的光照强度产生单元、图像采集单元及图像处理单元;所述地铁隧道模拟单元用于模拟地铁隧道内不同时段的自然环境光;所述光照强度产生单元用于对光源控制产生不同的光照强度;所述图像采集单元用于采集不同光源条件下的接触轨图像并传输至图像处理单元;所述图像处理单元用于分析不同光源条件对地铁接触轨表面缺陷拍摄图像识别质量的影响,通过优化光源参数,对地铁接触轨表面缺陷进行检测。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于地铁轨道检测,尤其涉及一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测方法及系统


技术介绍

1、本部分的陈述仅仅是提供了与本专利技术相关的
技术介绍
信息,不必然构成在先技术。

2、地铁在城市交通中发挥着许多重要的作用,为人们生活带来了极大的便利。列车在行驶过程中离不开三条轨道的协助,两条行驶钢轨,一条接触轨。接触轨是一种供给列车电能的特殊输电系统,在列车运行过程中,列车伸出受电靴与接触轨搭接获取电能,这种供电方式具有稳定性好、电导率高、对隧道界限要求小等优点。

3、然而,接触轨在日常使用中由于日常列车摩擦,电火花燃烧等原因其表面会出现许多诸如裂纹、锈蚀、磨损等表面缺陷,长久不处理会对列车受流靴造成损坏并带来严重的安全隐患。接触轨通常是钢铝复合板组成,其表面在列车的摩擦下更加光滑,在日常巡检过程中需要采用人工或是机器的手段对其表面进行打光来查看其实际状态。在这个过程中,金属表面的的高反光性会给图像采集和处理带来困难。图像中的高光区域可能会遮挡缺陷的存在,或者造成图像过曝和失真,影响图像的质量和可用性。这些问题会降低表面缺陷检测和识别的准本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测系统,其特征是,包括:

2.如权利要求1所述的一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测系统,其特征是,所述地铁隧道模拟单元包括内外包围的两个黑箱,内黑箱的两侧有开口,在开口处放置格栅网使开口呈格栅状;两个LED灯可以设置不同的光照强度,分别放置在所述内黑箱两侧开口处,将光照射进内黑箱中,以此模拟地铁隧道内不同时段的自然环境光。

3.如权利要求1所述的一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测系统,其特征是,所述光照强度产生单元包括:条形光源、环形光源及圆顶光源,上述光源均连接至光源控制器;

4.如权利要求1所述的一种高反光地铁接触轨表...

【技术特征摘要】

1.一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测系统,其特征是,包括:

2.如权利要求1所述的一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测系统,其特征是,所述地铁隧道模拟单元包括内外包围的两个黑箱,内黑箱的两侧有开口,在开口处放置格栅网使开口呈格栅状;两个led灯可以设置不同的光照强度,分别放置在所述内黑箱两侧开口处,将光照射进内黑箱中,以此模拟地铁隧道内不同时段的自然环境光。

3.如权利要求1所述的一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测系统,其特征是,所述光照强度产生单元包括:条形光源、环形光源及圆顶光源,上述光源均连接至光源控制器;

4.如权利要求1所述的一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测系统,其特征是,所述光照强度产生单元还包括:红蓝绿三色滤光片,将所述红蓝绿三色滤光片贴于所述条形光源、环形光源、圆顶光源的前端即可得到红色光、蓝色光和绿色光。

5.如权利要求1所述的一种高反光地铁接触轨表面缺陷检测系统,其特征是,所述光照强度产生单元还包括:偏振片,所述偏振片为线偏振片,可放置于所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:张庆松焦源树陈新刘衍溢李睿于民兴王子墨
申请(专利权)人:山东大学
类型:发明
国别省市:

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