基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法技术方案

本发明专利技术公开了基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法，涉及制冷型红外成像系统技术领域，解决了现有技术中，针对泄漏气体探测方面的适用性受到限制的技术问题，具体为控制实验中背景黑体温度、气体温度、环境压力、环境温度、测试气体种类、测试光学系统参数始终保持一致；控制在距离L<subgt;1</subgt;、L<subgt;2</subgt;、L<subgt;3</subgt;……L<subgt;n</subgt;等距离下，测得系统最小可探测流量为LR<subgt;1</subgt;、LR<subgt;2</subgt;、……LR<subgt;n</subgt;；根据LR<subgt;i</subgt;=αL<subgt;i</subgt;<supgt;2</supgt;+β的基本形式对LR<subgt;1</subgt;……LR<subgt;n</subgt;与L<subgt;1</subgt;……L<subgt;n</subgt;之间的关系进行拟合，求得特定比较参数α和修正项β；对制冷型红外成像系统对气体泄漏的探测能力由α决定，α越小，则制冷型红外成像系统对气体泄漏的探测能力越强。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及制冷型红外成像系统，具体为基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法。

技术介绍

1、制冷型红外成像系统是一种利用红外探测器对目标物体进行热成像的先进技术设备；制冷型红外成像系统主要由光学系统、红外探测器、制冷机和信号处理系统等部分组成；光学系统将目标物体发出的红外辐射聚焦到红外探测器上，红外探测器将接收到的红外辐射转换为电信号，经过信号处理系统的放大、滤波、数字化等处理后，形成可供显示和分析的红外图像。

2、然而现有的制冷型红外成像系统的评价方法主要基于系统netd、mrtd等指标展开，但考虑到上述指标主要集中讨论制冷型红外成像系统针对特定图像目标（如四杆靶等）的成像分辨能力，未能针对气体泄漏这一实际场景的使用展开讨论，因此其在针对泄漏气体探测方面的适用性受到限制。

3、针对上述的技术缺陷，现提出一种解决方案。

技术实现思路

1、本专利技术的目的就在于为了解决上述提出的问题，而提出基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法。

2、本专利技术的目的可以通过本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法，其特征在于，具体性能评价方法步骤如下：

2.根据权利要求1所述的基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法，其特征在于，步骤一具体过程如下：

3.根据权利要求2所述的基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法，其特征在于，为便于计算，测试气体应选择纯度至少为90%的测试气体，且选择杂质成分光谱吸收范围与当前测试气体、成像系统的光谱响应范围存在显著差异的混合气体；同时，成像系统的光谱响应范围不包含当前测试环境大气中显著存在气体的光谱吸收范围；背景黑体温度应设置为气体温度+5℃。

4.根据权利要求3所述...

【技术特征摘要】

1.基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法，其特征在于，具体性能评价方法步骤如下：

2.根据权利要求1所述的基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法，其特征在于，步骤一具体过程如下：

3.根据权利要求2所述的基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法，其特征在于，为便于计算，测试气体应选择纯度至少为90%的测试气体，且选择杂质成分光谱吸收范围与当前测试气体、成像系统的光谱响应范围存在显著差异的混合气体；同时，成像系统的光谱响应范围不包含当前测试环境大气中显著存在气体的光谱吸收范围；背景黑体温度应设置为气体温度+5℃。

4.根据权利要求3所述的基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法，其特征在于，软管管口应距离背景黑体至少30cm，软管管口应恰好位于成像画面之外，其中距离以成像仪光学系统最外层窗口中心指向软管管口的方向计。

5.根据权利要求4所述的基于气体泄漏的制冷型红外成像系统性能评价方法，其特征在于，实验应配备4名观...

【专利技术属性】
技术研发人员：饶宇昂，高益，王顺，李雅梅，孙艳成，洪庆，
申请(专利权)人：合肥航谱时代科技有限公司，
类型：发明
国别省市：