一种存储设备测试处理方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种存储设备测试处理方法及装置，该方法包括：获取待测试存储设备对应的测试环境的网络硬件资源以及测试用例需求；基于测试用例需求对测试环境的网络硬件资源进行配置处理，构建相应的网络拓扑结构；其中，网络拓扑结构包括存储设备与测试环境中至少一个服务器主机之间的对应关系；基于网络拓扑结构和测试用例需求配置得到相应的测试任务，并执行测试任务以对存储设备进行压力读写测试，获得测试结果；根据测试用例需求确定相应的指标门限，基于指标门限与测试结果进行评估分析，生成测试分析结果。本发明专利技术提供的存储设备测试处理方法，能够有效提升存储设备整体测试分析效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机应用，尤其涉及一种存储设备测试处理方法及装置，另外还涉及一种电子设备及非暂态计算机可读存储介质。

技术介绍

1、近年来，随着计算机技术的快速发展，各种存储设备应用越来越广泛。存储设在整个存储网络系统中用于关键数据的长期储存，其读写业务关乎整个存储网络系统的最终运行效果，因而对存储设备进行多维度的负载测试，了解存储设备的负载极限是衡量存储性能的重要标准。在存储网络系统中存储设备io（input/output）业务测试过程中，当前已有自动化测试技术多作用于测试应用软件或设备系统软件层面控制io压力模型测试、设备系统稳定性测试。如控制测试工具脚本io模型及测试时长、控制操作系统故障注入，其在整个测试过程中是不断的测试、分析、调整、再测试，测试过程是十分繁琐而且耗时的，导致实际存储设备测试处理效率较差。因此，如何设计一种更为高效的存储设备测试处理方案成为当前亟待解决的技术问题。

技术实现思路

1、本专利技术提供一种存储设备测试处理方法，用以解决现有技术中存在的存储设备测试处理方案局限性较高，导致实本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储设备测试处理方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储设备测试处理方法，其特征在于，所述基于所述网络拓扑结构和所述测试用例需求编排得到相应的测试任务，并执行所述测试任务以对所述存储设备进行压力读写测试，获得测试结果，包括：

3.根据权利要求1所述的存储设备测试处理方法，其特征在于，所述根据所述测试用例需求确定相应的指标门限，基于所述指标门限与所述测试结果进行评估分析，生成测试分析结果，具体包括：

4.根据权利要求1所述的存储设备测试处理方法，其特征在于，在基于所述指标门限与所述测试结果进行评估分析，生成测试分析结果之后，还包括：...

【技术特征摘要】

1.一种存储设备测试处理方法，其特征在于，包括：

2.根据权利要求1所述的存储设备测试处理方法，其特征在于，所述基于所述网络拓扑结构和所述测试用例需求编排得到相应的测试任务，并执行所述测试任务以对所述存储设备进行压力读写测试，获得测试结果，包括：

3.根据权利要求1所述的存储设备测试处理方法，其特征在于，所述根据所述测试用例需求确定相应的指标门限，基于所述指标门限与所述测试结果进行评估分析，生成测试分析结果，具体包括：

4.根据权利要求1所述的存储设备测试处理方法，其特征在于，在基于所述指标门限与所述测试结果进行评估分析，生成测试分析结果之后，还包括：

5.根据权利要求1所述的存储设备测试处理方法，其特征在于，在基于所述测试用例需求对所述测试环境的网络硬件资源进行编排处理，构建相应的...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵文杰，
申请(专利权)人：苏州元脑智能科技有限公司，
类型：发明
国别省市：