【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及大型薄板类工件测量,具体为大型薄板测量机。
技术介绍
1、精密化、大型化的产品需求越来越多,薄板类工件的加工范围及精度也在不断提升,尤其是大型的薄板类工件,大型薄板类工件由于自身的刚性小,易变性等特殊性,给测量带来极大苦难,传统测量时只能依靠皮尺、板尺等工具作简单的测量,复杂的轮廓及元素的形位公差则无法测量,如何快速精确测量薄板类零件,成为一个难点课题。
2、因此,为了解决薄板类工件的测量需求,填补该类测量设备的空白,提高测量精度,提出一种大型薄板测量机。
技术实现思路
1、本专利技术的目的在于提供大型薄板测量机,以解决上述
技术介绍
中提出大型薄板类工件由于自身的刚性小,易变性等特殊性,传统的测量方法对于大型薄板类工件的测量过程复杂,尤其是复杂轮廓无法测量导致严重影响大型薄板类工件生产效率的问题。
2、为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:大型薄板测量机,包括基础支架、x轴组件、正弦支架、y轴组件和测头系统,所述x轴组件设置在基础支架上用于提供x轴
...【技术保护点】
1.大型薄板测量机,其特征在于:包括基础支架(1)、X轴组件(2)、正弦支架(3)、Y轴组件(7)和测头系统(8),所述X轴组件(2)设置在基础支架(1)上用于提供X轴方向的移动,所述Y轴组件(7)设置在X轴组件(2)上用于提供Y轴的移动,X轴组件(2)和Y轴组件(7)配合为测头系统(8)提供平面内的运动,所述正弦支架(3)固定在基础支架(1)上,所述正弦支架(3)的顶部为与地面形成倾角的斜面设置,所述正弦支架(3)上固定安装有工作台(5)。
2.根据权利要求1所述的大型薄板测量机,其特征在于:所述X轴组件(2)包括X轴导轨(11)、X轴移动座(13),所
...【技术特征摘要】
1.大型薄板测量机,其特征在于:包括基础支架(1)、x轴组件(2)、正弦支架(3)、y轴组件(7)和测头系统(8),所述x轴组件(2)设置在基础支架(1)上用于提供x轴方向的移动,所述y轴组件(7)设置在x轴组件(2)上用于提供y轴的移动,x轴组件(2)和y轴组件(7)配合为测头系统(8)提供平面内的运动,所述正弦支架(3)固定在基础支架(1)上,所述正弦支架(3)的顶部为与地面形成倾角的斜面设置,所述正弦支架(3)上固定安装有工作台(5)。
2.根据权利要求1所述的大型薄板测量机,其特征在于:所述x轴组件(2)包括x轴导轨(11)、x轴移动座(13),所述x轴导轨(11)固定连接在基础支架(1)上,所述x轴移动座(13)的底部固定连接有滑块一(12),所述滑块一(12)滑动连接在x轴导轨(11)上,所述x轴移动座(13)上固定连接有把手(15),所述x轴移动座(13)上螺纹连接有定位轴(16)。
3.根据权利要求2所述的大型薄板测量机,其特征在于:所述基础支架(1)上设有工件定位结构(4),所述工件定位结构(4)包括定位架(17),所述定位架(17)上固定连接有工件定位块(18),所述工件定位块(18)上螺纹连接有锁定旋钮(19)。
4.根据权利要求3所述的大型薄板测量机,其特征在于:所述y轴组件(7)包括y轴横梁(20)、y轴移动座(22),所述y轴横梁(20)固定安装在x轴移动座(13)上,所述y轴横梁(20)上固定连接有y轴导轨(21),所述y轴移动座(22)上固定连接有滑块二(23),所述滑块二(23)滑动连接在y轴导轨(21)上,所述测头系统(8)固定安装在y轴移动座(22)上,所述测头系统(8)内包括一个光学探头。
5.根据权利要求4所述的大型薄板测量机,其特征在于:所述y轴导轨(21)与x轴导轨(11)呈垂直设置,所述工作台(5)固定在正弦支架(3)的斜面上,所述y轴横梁(20)与工作台(5)的表面为平行设置。
6.根据权利要求5所述的大型薄板测量机,其特征在于:所...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱阳光,柳涛,
申请(专利权)人:摩拉测量技术西安有限公司,
类型:发明
国别省市:
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