一种基于OTDR的单模光纤多参数同步测量方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种基于OTDR的单模光纤多参数同步测量方法，包括生成光脉冲信号；将光脉冲信号注入正向光路路径中生成正向的第一背向瑞利散射光功率信号，以及注入反向光路路径中生成反向的第二背向瑞利散射光功率信号；对第一及第二背向瑞利散射光功率信号光电信号转换成两个电信号；两个电信号模数转换为两个数字信号；基于两个数字信号，绘制出背向瑞利散射功率分布图，并结合第一及第二参考光纤的多个参数值，通过数据模型计算得到被测光纤的多个参数值；其中，正向光路路径为第一参考光纤、待测光纤至第二参考光纤，而反向光路路径与之相反。实施本发明专利技术，能够实现对单模光纤的多参数同步测量，显著降低了测量成本和复杂度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光纤，尤其涉及一种基于otdr(optical time-domainreflectometer，光时域反射仪)的单模光纤多参数同步测量方法及系统。

技术介绍

1、随着现代通信业务的迅猛发展，传输容量需求不断增加，推动了新型光纤传输技术的研究热点。多芯光纤和少模光纤为代表的空分复用技术(space-divisionmultiplexing,sdm)作为突破单模光纤系统容量瓶颈的新途径，通过充分利用空间维度，可实现系统传输容量的成倍提升，成为未来实现tbit/s乃至pbit/s级别传输的核心技术之一。然而，现阶段的空分复用传输技术仍处于实验室研究阶段，尚未广泛应用于实际场景。为了进一步提升光纤系统的频谱效率并降低单位比特的传输成本，高维调制方式的应用成为关键，这对光纤的损耗、线性度等性能提出了更高的要求。

2、目前，针对光纤不同参数的测量已发展出多种技术方案。例如，色散测量通常采用时域法、频域法及背向散射法；光纤损耗测量主要依靠截断法和背向散射法；有效模场面积及模场直径的测量则常使用近场扫描法、远场扫描法和可变孔径法；折射率分布可以本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于OTDR的单模光纤多参数同步测量方法，其特征在于，通过基于OTDR的单模光纤多参数同步测量系统对两端连接有第一参考光纤及第二参考光纤的被测光纤进行多参数同步测量，所述方法包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的基于OTDR的单模光纤多参数同步测量方法，其特征在于，所述光脉冲信号为中心波长1550nm，脉冲光功率为0～40mW，脉冲宽度为10～1200ns，重复频率为1～100kHz的范围内所指定的稳定光脉冲信号。

3.如权利要求2所述的基于OTDR的单模光纤多参数同步测量方法，其特征在于，所述第一参考光纤、所述第二参考光纤及所述被测光纤具有相同的参数，均...

【技术特征摘要】

1.一种基于otdr的单模光纤多参数同步测量方法，其特征在于，通过基于otdr的单模光纤多参数同步测量系统对两端连接有第一参考光纤及第二参考光纤的被测光纤进行多参数同步测量，所述方法包括以下步骤：

2.如权利要求1所述的基于otdr的单模光纤多参数同步测量方法，其特征在于，所述光脉冲信号为中心波长1550nm，脉冲光功率为0～40mw，脉冲宽度为10～1200ns，重复频率为1～100khz的范围内所指定的稳定光脉冲信号。

3.如权利要求2所述的基于otdr的单模光纤多参数同步测量方法，其特征在于，所述第一参考光纤、所述第二参考光纤及所述被测光纤具有相同的参数，均包括模场直径、有效模场面积、纤芯直径、有效折射率和截止波长。

4.如权利要求3所述的基于otdr的单模光纤多参数同步测量方法，其特征在于，所...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘峰，毛建龙，丁高逸扬，林可豪，卢瀚栋，
申请(专利权)人：温州大学，
类型：发明
国别省市：