【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种发光二极管漏电流测量装置，属于二极管检测电路技术。
技术介绍
1、现有针对二极管的漏电流测量方式包括反向偏置法和高阻抗电流测量法。
2、反向偏置法是将二极管反向偏置，通过测量其反向电流来间接测量漏电流。这种方法简单易行，但受限于测量精度较低，尤其在小电流范围内的测量精度不高，并且可能受到环境条件、仪器设备的影响，导致测量结果的精度不高，难以满足对漏电流精确度要求较高的应用场景。
3、高阻抗电流测量法是利用高阻抗放大器或专用漏电流测量仪器测量二极管的漏电流。这种方法需要高精度、高性能的漏电流测量设备，通常此类设备价格较高，对于一些中小型企业或实验室而言，设备成本是主要的限制因素。并且高阻抗电流测量法虽然精度高，但在实际应用中需要等待较长的测量时间，仅适用于实验操作，不能满足生产中对快速测量的需求，影响生产效率。
4、现有的漏电流测量技术在大规模的工业生产应用中难以普及，部分测量方法可能在小规模样品测试时效果良好，但在大规模生产线上应用时存在精度不够、效率不高的问题，无法满足高效率、高精度的
【技术保护点】
1.一种发光二极管漏电流测量装置，其特征在于：包括电源模块、跨阻放大模块、AD采样模块和处理模块，
2.根据权利要求1所述的一种发光二极管漏电流测量装置，其特征在于：所述电源模块采用16位可调基准电压源，可调电压值为0～2.5V，所述基准电压源输出连接电压放大模块，所述电压放大模块采用电压放大电路，将电源模块的输出电压放大输出。
3.根据权利要求2所述的一种发光二极管漏电流测量装置，其特征在于：所述电压放大电路中采用TP1252-SR作为高压运算放大器，并在电压放大电路的输出端设置三极管。
4.根据权利要求1所述的一种发光二极管漏电...
【技术特征摘要】
1.一种发光二极管漏电流测量装置，其特征在于：包括电源模块、跨阻放大模块、ad采样模块和处理模块，
2.根据权利要求1所述的一种发光二极管漏电流测量装置，其特征在于：所述电源模块采用16位可调基准电压源，可调电压值为0～2.5v，所述基准电压源输出连接电压放大模块，所述电压放大模块采用电压放大电路，将电源模块的输出电压放大输出。
3.根据权利要求2所述的一种发光二极管漏电流测量装置，其特征在于：所述电压放大电路中采用tp1252-sr作为高压运算放大器，并在电压放大电路的输出端设置三极管。
4.根据权利要求1所述的一种发光二极管漏电流测量装置，其特征在于：所述跨阻放大电路设置反馈电阻与跨阻放大器并联，调节反馈电阻和跨阻放大器输入电阻...
【专利技术属性】
技术研发人员：周显恩，陈家泳，万伟，李秦豫，朱青，周新城，汪志成，王飞文，王耀南，
申请(专利权)人：江西省通讯终端产业技术研究院有限公司，
类型：新型
国别省市：
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