【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体照明,具体涉及一种uvled的双层金属反射电极、uvled及提高uvled的光提取效率的方法。
技术介绍
1、由于algan基深紫外发光二极管(ultraviolet light emitting diodes,简称uvled)具有禁带连续可调、制备工艺较成熟和生产成本较低等优点,algan基uvled在荧光检测、杀菌消毒、水净化、生物医疗等领域都有重要的应用和广阔的市场前景。
2、然而,目前algan基uvled的光提取效率(light extraction efficiency,简称lee)仍然很低,这主要是由于algan基uvled具有独特的光学偏振特性和较大折射率差导致的界面全反射。而光的界面全反射会限制光的出射,导致光提取效率降低、更多的光被器件材料吸收转化为热能等问题。
3、研究表明,在器件的出射表面刻蚀图形,例如三棱柱、四棱锥、半球等结构,能够有效提高其光提取效率。此外,在对于倒装led结构,在金属反射层构建微纳结构,如纳米颗粒、倾斜反射侧壁等,能够提高散射或反射,从而提高光提取
...【技术保护点】
1.UVLED的双层金属反射电极,其特征在于,包括第一金属反射层、介质层、接触层和第二金属反射层;其中,
2.根据权利要求1所述的UVLED的双层金属反射电极,其特征在于,所述第一金属反射层由金属纳米阵列构成;
3.根据权利要求2所述的UVLED的双层金属反射电极,其特征在于,所述第二金属反射层的厚度t1>100nm;和/或
4.根据权利要求3所述的UVLED的双层金属反射电极,其特征在于,所述第一金属反射层的厚度t2的取值范围为20nm~50nm;和/或
5.根据权利要求4所述的UVLED的双层金属反射电极,其特征在于
...【技术特征摘要】
1.uvled的双层金属反射电极,其特征在于,包括第一金属反射层、介质层、接触层和第二金属反射层;其中,
2.根据权利要求1所述的uvled的双层金属反射电极,其特征在于,所述第一金属反射层由金属纳米阵列构成;
3.根据权利要求2所述的uvled的双层金属反射电极,其特征在于,所述第二金属反射层的厚度t1>100nm;和/或
4.根据权利要求3所述的uvled的双层金属反射电极,其特征在于,所述第一金属反射层的厚度t2的取值范围为20nm~50nm;和/或
5.根据权利要求4所述的uvled的双层金属反射电极,其特征在于,所述介质层的厚度g=h-t2,且所述g=/2ng,其中,ng为所述介质层所选用的材料的有效折射率。
6.根据权利要求1至5任一项所述的uvled的双层金属反射电极,其特征在于,所述第一金属反射层和第二金属反射层两...
【专利技术属性】
技术研发人员:谭起龙,刘宁炀,王长安,李祈昕,曾昭烩,曹梦,任涵,陈志涛,
申请(专利权)人:广东省科学院半导体研究所,
类型:发明
国别省市:
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