一种用于直线光轴直径的快速测量设备制造技术

本发明专利技术涉及直线光轴测量技术领域，具体涉及一种用于直线光轴直径的快速测量设备，包括有分散机构，固定于输送单元一一侧外壁，用于将集中的光轴分散输送测量；测量机构，设置有四个，等间距固定于分散机构外壁上，用于对光轴厚度进行测量；标记机构，固定于四个测量机构一侧外壁之间处，用于对测量不合格的光轴进行标记；投影机构，固定于输送单元二一侧外壁靠近分散机构位置处，用于检测光轴形状。本发明专利技术中，通过分散机构可将集中在一起的光轴分散在每个滑槽二内部，方便多个测量机构同时对多个滑槽二内部的光轴的直径进行检查，且期间无需人员操作，便可快速进行分配，有效提高了工作效率，降低了劳动强度。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及直线光轴测量，具体涉及一种用于直线光轴直径的快速测量设备。

技术介绍

1、在工业制造领域，直线光轴是关键的机械组件，广泛应用于自动化设备、精密机械和各种传动系统中。直线光轴的直径精度直接关系到机械设备的运行效率和稳定性。因此，对直线光轴的直径进行快速且准确地测量是生产过程中的一个重要环节。

2、传统的直线光轴直径测量率低下方法通常依赖于人工使用卡尺等工具进行测量，这种方法不仅效率慢，而且容易受到操作者技能和视觉疲劳的影响，导致测量结果出现偏差。特别是在大批量生产环境中，这种测量方式难以满足高效率和高精度的要求。

技术实现思路

1、为了克服上述的技术问题，本专利技术的目的在于提供用于一种用于直线光轴直径的快速测量设备，通过分散机构可将集中在一起的光轴分散在每个滑槽二内部，方便多个测量机构同时对多个滑槽二内部的光轴的直径进行检查，且期间无需人员操作，便可快速进行分配，有效提高了工作效率，降低了劳动强度，通过电动伸缩杆一可同时控制多个方架一运动，有效提高了机械联动性，同时，能够控制一次只能本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于直线光轴直径的快速测量设备，包括：

2.根据权利要求1所述的一种用于直线光轴直径的快速测量设备，其特征在于，分散机构（200）包括：

3.根据权利要求2所述的一种用于直线光轴直径的快速测量设备，其特征在于，测量机构（300）包括：

4.根据权利要求3所述的一种用于直线光轴直径的快速测量设备，其特征在于，测量机构（300）包括：

5.根据权利要求4所述的一种用于直线光轴直径的快速测量设备，其特征在于，测量机构（300）包括：

6.根据权利要求5所述的一种用于直线光轴直径的快速测量设备，其特征在于，测量机构（300）包括...

【技术特征摘要】

1.一种用于直线光轴直径的快速测量设备，包括：

2.根据权利要求1所述的一种用于直线光轴直径的快速测量设备，其特征在于，分散机构（200）包括：

3.根据权利要求2所述的一种用于直线光轴直径的快速测量设备，其特征在于，测量机构（300）包括：

4.根据权利要求3所述的一种用于直线光轴直径的快速测量设备，其特征在于，测量机构（300）包括：

5.根据权利要求4所述的一种用于直线光轴直径的快速测量设备，其特征在于，测量机构（300）包括：

6.根据权利要求5所...

【专利技术属性】
技术研发人员：邱磊艺，
申请(专利权)人：丽水市正达精密机械有限公司，
类型：发明
国别省市：