一种基于干涉原理的光学实验装置制造方法及图纸

技术编号:43834231 阅读:23 留言:0更新日期:2024-12-31 18:32
本发明专利技术为一种基于干涉原理的光学实验装置,属于光学检测技术领域。包括电脑和基座,基座设置在电脑的一侧;基座上依次设置有摄像机构、样品放置机构和光源机构,且摄像机构、样品放置机构和光源机构位于同一水平线上;样品放置机构、摄像机构分别与电脑电连接,电脑用于储存识别摄像机构所拍摄的光学干涉录像,并控制样品放置机构上升/下降。本发明专利技术不仅能够用于工业生产中微小直径、厚度或平凸透镜曲率半径的自动测量并减小读数误差,还能应用于光的干涉类实验原理的教学,用处广泛。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光学检测,具体涉及一种基于干涉原理的光学实验装置


技术介绍

1、基于光的干涉,产生了如“牛顿环”、“劈尖干涉条纹”等众多经典的光学现象。通过将一束平行光束分为两束,当这两束平行光再次叠加重合时,将会产生各种干涉图样,利用这些干涉条纹可以检测光学薄膜的厚度、光波的波长、平凸透镜的曲率半径、液体的折射率、透镜的加工质量、光学元件的表面形貌等。

2、在利用光的干涉测量光学薄膜的厚度、光波的波长、平凸透镜的曲率半径、液体的折射率等参数时,原理是通过几何公式将所需测量的参数与干涉条纹的间距联系起来,通过计算得到所需测量的参数。此类光学实验通常使用普通读数显微镜测量多个暗条纹之间的距离,然后利用公式进行计算得到所需参数。这需要测量者长时间数干涉条纹的个数并同时记录多个干涉条纹之间的实际距离。为了使明暗条纹的对比更加清晰,需要实验环境较为昏暗,实验者在此种环境下长时间在显微镜中进行大量读数和计数,这对实验者的耐心和细致程度要求很高。不仅如此,这样的测试方式不仅极易引起实验者眼睛疲劳造成读数错误,而且不同光线环境或不同实验者所读取的同一间距的差本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征在于,还包括拍摄箱,所述基座、所述摄像机构、所述样品放置机构和所述光源机构均设置在所述拍摄箱内,以使所述摄像机构达到更好的拍摄效果。

3.如权利要求1所述的一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征在于,所述摄像机构包括摄像头调节组件和摄像头;

4.如权利要求3所述的一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征在于,所述摄像头调节组件包括摄像平台、固定座、第一滑块和第一丝杆;

5.如权利要求3所述的一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征...

【技术特征摘要】

1.一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征在于,包括:

2.如权利要求1所述的一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征在于,还包括拍摄箱,所述基座、所述摄像机构、所述样品放置机构和所述光源机构均设置在所述拍摄箱内,以使所述摄像机构达到更好的拍摄效果。

3.如权利要求1所述的一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征在于,所述摄像机构包括摄像头调节组件和摄像头;

4.如权利要求3所述的一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征在于,所述摄像头调节组件包括摄像平台、固定座、第一滑块和第一丝杆;

5.如权利要求3所述的一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征在于,所述摄像头的镜头中央设置有十字叉丝。

6.如权利要求5所述的一种基于干涉原理的光学实验装置,其特征在于,所述样品放置机构包括x-y轴调节组件、样品升降台和样品支架;

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【专利技术属性】
技术研发人员:江琴刘娅
申请(专利权)人:中国民用航空飞行学院
类型:发明
国别省市:

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