一种支持主从模式的通用处理器接口测试设备制造技术

技术编号:43830809 阅读:22 留言:0更新日期:2024-12-31 18:30
本发明专利技术公开了一种支持主‑从模式的通用处理器接口测试设备,包括:通用处理器接口测试设备、接口电路和配置电源,所述通用处理器接口测试设备为ASIC或FPGA或CPLD集成电路模块,接口电路包括上位机接口和待测板接口;其中,所述通用处理器接口测试设备通过引脚或线缆连接至接口电路,配置电源通过引脚或线缆连接至通用处理器接口测试设备和接口电路。其中,上位机接连接至上位机终端,待测板接口连接至处理器、PCB单板或ASIC/FPGA集成电路。该电路通过上位机发送读写通信指令,实现通用处理器接口测试设备和处理器/单板的数据通信,从而完成处理器/单板数据通信接口功能测试。

【技术实现步骤摘要】

本技术属于航电,尤其涉及一种支持主从模式的通用处理器接口测试设备


技术介绍

1、随着飞机平台电路设备产量和复杂性的不断上升。机载设备对地面测试准确性、全面性和测试效率的要求不断提高。传统的机载计算机/单板端口通信测试依据其每一个设备的特有端口通信时序开发单独端口通信测试设备,该方法成本高,复用性差,且无法测试端口通信边界时序参数。给机载设备地面测试带来实际困难。


技术实现思路

1、本专利技术的目的在于提出一种支持主从模式的通用处理器接口测试设备,以解决现有计算机/单板端口数据通信测试设备复用性差、测试单一的问题。

2、本专利技术采用如下技术方案予以实现。

3、本专利技术提供一种支持主从模式的通用处理器接口测试设备,所述测试设备包括:通用处理器接口测试集成电路模块1、接口电路2和配置电源3,所述接口电路2包括上位机接口4和待测板接口5;

4、其中,所述通用处理器接口测试集成电路模块1分别和上位机接口4和待测板接口5连接,且配置电源3为通用处理器接口测试集成电路模块1、上位机本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种支持主从模式的通用处理器接口测试设备,其特征在于,所述测试设备包括:通用处理器接口测试集成电路模块(1)、接口电路(2)和配置电源(3),所述接口电路(2)包括上位机接口(4)和待测板接口(5);

2.根据权利要求1所述的一种支持主从模式的通用处理器接口测试设备,其特征在于,所述通用处理器接口测试集成电路模块(1)中上位机通信端口时序参数不可配置,外部上位机需要使用特定时序的并行通信协议与通用处理器接口测试集成电路模块(1)通信。

3.根据权利要求2所述的一种支持主从模式的通用处理器接口测试设备,其特征在于,所述通用处理器接口测试集成电路模块(1)中待测板...

【技术特征摘要】

1.一种支持主从模式的通用处理器接口测试设备,其特征在于,所述测试设备包括:通用处理器接口测试集成电路模块(1)、接口电路(2)和配置电源(3),所述接口电路(2)包括上位机接口(4)和待测板接口(5);

2.根据权利要求1所述的一种支持主从模式的通用处理器接口测试设备,其特征在于,所述通用处理器接口测试集成电路模块(1)中上位机通信端口时序参数不可配置,外部上位机需要使用特定时序的并行通信协议与通用处理器接口测试集成电...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈国强谭特
申请(专利权)人:中国航空工业集团公司西安飞行自动控制研究所
类型:新型
国别省市:

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