【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及计算机视觉，具体涉及一种基于isp芯片的测量显微镜标定方法。
技术介绍
1、显微镜精细化测量，能够对微米级进行尺寸的测量，对光学及图像成像质量有较高的要求。由于镜头设计的复杂性和工艺水平等影响因素，实际成像系统不可能严格地满足中心透视投影模型，从而使得物点在相机成像面上实际所成的像与理想成像之间存在光学畸变误差。
2、目前主流的三种相机标定方法：
3、(1)张正友标定方法，这是一种利用图片间的单应矩阵线性解出除畸变系数外所有参数的标定方法。这种方法求出的相机参数精度高且稳定，所以是目前最通用的标定算法；但是要得到图片之间的单应矩阵关系，至少要从角度明显不同的位置拍摄两幅图片，不适用于景深小、倍率高的测量显微镜系统。
4、(2)tsai算法，也叫两步法。假设图片只受径向畸变影响，也就是假设只在和相机成像面垂直的方向上存在畸变，据此建立相机内外参的线性方程组，进而通过最小二乘法解出所有参数。此方法标定快速，且精确度高，并且只需要拍摄一幅图片，但是一旦标定物和成像面之间的夹角小于30°，通过此...
【技术保护点】
1.一种基于ISP芯片的测量显微镜标定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于ISP芯片的测量显微镜标定方法，其特征在于，将标定板固定在测量显微镜的载物台上，利用显微镜系统采集包含标定圆的多幅图像，使用图像处理软件提取标定圆的初始图像坐标，将提取的坐标转化为归一化坐标具体包括以下步骤：
3.根据权利要求1所述的一种基于ISP芯片的测量显微镜标定方法，其特征在于，所述径向畸变量的计算公式如下：
4.根据权利要求3所述的一种基于ISP芯片的测量显微镜标定方法，其特征在于，所述偏心畸变量的计算公式如下：
5....
【技术特征摘要】
1.一种基于isp芯片的测量显微镜标定方法，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的一种基于isp芯片的测量显微镜标定方法，其特征在于，将标定板固定在测量显微镜的载物台上，利用显微镜系统采集包含标定圆的多幅图像，使用图像处理软件提取标定圆的初始图像坐标，将提取的坐标转化为归一化坐标具体包括以下步骤：
3.根据权利要求1所述的一种基于isp芯片的测量显微镜标定方法，其特征在于，所述径向畸变量的计算公式如下：
4.根据权利要求3所述的一种基于isp芯片的测量显微镜标定方法，其特征在于，所述偏心畸变量的计算公式如下：
5.根据权利要求4所述的一种基于isp芯片的测量显微镜标定方法，其特征在于，所述薄棱镜畸变量的计算公式如下：
6.根据权利要求5所述的一种基于isp芯片的测量显微镜...
【专利技术属性】
技术研发人员：崔远驰，徐清平，陈雨晴，何金泉，李呈武，魏鑫，
申请(专利权)人：南京木木西里科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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