一种具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪制造技术

技术编号:43827496 阅读:22 留言:0更新日期:2024-12-31 18:28
本技术提出了一种具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪,解决了现有技术中不能放大固体膨胀时的微小位移,不利于更直观的进行观测技术问题。具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪,包括数显温控仪,还包括放置测试样品的安装机构,所述数显温控仪连接所述安装机构对所述测试样品加热控温,所述测试样品端部连接有激光发射器,所述激光发射器正上方依次间隔设置有激光照射的单缝板、双缝板、幕板。测量样品经过不同温度加热后在进行激光的双缝干涉测得对应的条纹,通过不同温度下的条纹间距进行线膨胀系数的测定,放大固体膨胀时的微小位移,利于更直观的进行观测,可以非常精确地测量材料的线膨胀系数。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及线膨胀系数测定仪领域,尤其涉及一种具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪


技术介绍

1、随着科学技术的发展,线膨胀系数的测量和计算方法也不断得到改进和完善。通常采用迈克尔逊干涉法、千分表法、电桥法、读数显微镜法等方法测量相应的微小位移变化。上述方法各有其优劣,如千分表法,容易操作,原理简单易懂,但是对其精密度要求较高,由于自身机械结构等原因,造成误差相对较大;而迈克尔逊干涉法测量精度很高,但是其抗干扰能力较弱,对于实验环境的要求较高,实验中的细微扰动如桌子的晃动就会引起误差。

2、为解决上述因为自身机械结构读数存在视差造成的测量数据不准确,抗干扰能力较弱的问题,目前主要采用光杠杆镜尺法,如授权公告日为2022.4.19、授权公告号为cn216350456u的中国技术专利,公开了一种利用等厚干涉测量金属线膨胀系数的装置,所述利用等厚干涉测量金属线膨胀系数的装置,包括底座、温控组件、激光器、光束分裂器和ccd摄像头模块,底座上设置有高度可调节且水平的支撑板,支撑板上叠放有用于组合构成空气劈尖的下光学玻璃板及上光学玻璃板,下光学玻璃板和待测金本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪,包括数显温控仪(10),其特征在于:还包括放置测试样品(5)的安装机构,所述数显温控仪(10)连接所述安装机构对所述测试样品(5)加热控温,所述测试样品(5)端部连接有激光发射器(14),所述激光发射器(14)正上方依次间隔设置有激光照射的单缝板(15)、双缝板(16)、幕板(17)。

2.根据权利要求1所述的具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪,其特征在于:所述安装机构包括放置测试样品(5)的均匀导热管(4),所述均匀导热管(4)外周依次设置有与数显温控仪(10)连接的加热圈(3)、隔热管(6)。

3.根据权利要求2所述...

【技术特征摘要】

1.一种具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪,包括数显温控仪(10),其特征在于:还包括放置测试样品(5)的安装机构,所述数显温控仪(10)连接所述安装机构对所述测试样品(5)加热控温,所述测试样品(5)端部连接有激光发射器(14),所述激光发射器(14)正上方依次间隔设置有激光照射的单缝板(15)、双缝板(16)、幕板(17)。

2.根据权利要求1所述的具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪,其特征在于:所述安装机构包括放置测试样品(5)的均匀导热管(4),所述均匀导热管(4)外周依次设置有与数显温控仪(10)连接的加热圈(3)、隔热管(6)。

3.根据权利要求2所述的具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪,其特征在于:所述均匀导热管(4)内壁设置有支撑环(12),所述测试样品(5)滑动穿设于所述支撑环(12)内。

4.根据权利要求3所述的具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪,其特征在于:所述均匀导热管(4)两端均固接有柱形卡扣件(11),所述柱形卡扣件(11)插接在均匀导热管(4)内壁、隔热管(6)内壁。

5.根据权利要求4所述的具有光学干涉结构的线膨胀系数测定仪,其特征在于:所述激光发射器(1...

【专利技术属性】
技术研发人员:孔腾飞罗源及罗怡
申请(专利权)人:河南工业大学
类型:新型
国别省市:

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1