一种地质勘测用深层岩石样品取样装置制造方法及图纸

技术编号:43817440 阅读:24 留言:0更新日期:2024-12-27 13:30
本技术公开了一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,包括固定安装台板,所述固定安装台板的下端四个拐角均固定安装有固定支腿,且固定支腿的下端外侧设置有支撑框架,所述固定安装台板的中部设置有第一调节杆,且第一调节杆的下端安装有安装横板,所述安装横板的下方设置有取样模块,所述连接组件由活动限位杆、第一阻尼式橡胶块、调节栓和橡胶圈构成;调节盘,其设置在第一调节杆的上端外侧并位于固定安装台板的中部上方,所述调节盘的右端连接有第二调节杆。该地质勘测用深层岩石样品取样装置,能够根据需要进行升降支撑调节,避免造成探取点难以钻探的问题,有利于进行稳定的连接安装,且提高了该装置的实用效果。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及地质勘测相关,具体为一种地质勘测用深层岩石样品取样装置


技术介绍

1、地质钻探是指利用一定的钻探机械设备和工艺取得地表以下岩矿心,为地质和矿产资源参数做出可靠评价的一项地质工程,钻探是地质勘探工作中的一项重要技术手段,同时可从钻孔中不同深度处取得岩心、矿样和土样进行分析研究,用以测定岩石和土层的物理、力学性质和指标,提供设计需要,因此需要用到一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,比如:

2、中国专利授权公告号cn205861373u,公开了一种岩石取样装置,取样组件,取样组件位于取样位的正上方,取样组件用于对岩石进行取样;设置在取样台上的振动发生装置,与振动发生装置相传动连接的取样组件,振动发生装置能带动取样组件振动;支架,设置在取样台上;设置在支架上的光学组件,光学组件位于取样位的正上方,并用于对岩石的某一取样区域进行放大成像。

3、上述中的现有技术方案存在以下缺陷:不便于根据需要进行升降支撑调节,易造成探取点难以钻探的问题,不便于进行稳定的连接安装,且实用效果不佳,因此我们提出一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,以便于本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,其特征在于:所述支撑框架(3)在固定支腿(2)的外侧构成卡合式滑动结构,且支撑框架(3)的下端内侧开设有预留孔槽。

3.根据权利要求2所述的一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,其特征在于:所述支撑框架(3)和固定支腿(2)的内侧均开设有阻尼式穿孔(4),且阻尼式穿孔(4)的内侧设置有限位插销(5),并且限位插销(5)贯穿于支撑框架(3)通过阻尼式穿孔(4)与固定支腿(2)之间采用插接的方式相连接。

4.根据权利要求1所述的一种地质勘测...

【技术特征摘要】

1.一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,其特征在于:所述支撑框架(3)在固定支腿(2)的外侧构成卡合式滑动结构,且支撑框架(3)的下端内侧开设有预留孔槽。

3.根据权利要求2所述的一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,其特征在于:所述支撑框架(3)和固定支腿(2)的内侧均开设有阻尼式穿孔(4),且阻尼式穿孔(4)的内侧设置有限位插销(5),并且限位插销(5)贯穿于支撑框架(3)通过阻尼式穿孔(4)与固定支腿(2)之间采用插接的方式相连接。

4.根据权利要求1所述的一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,其特征在于:所述安装横板(7)的下端外侧设置有位于取样模块(8)上端内侧的第二阻尼式橡胶块(10),且安装横板(7)通过第二阻尼式橡胶块(10)与取样模块(8)之间采用卡合的方式相连接。

5.根据权利要求1所述的一种地质勘测用深层岩石样品取样装置,其特征在于:所述安装横板(7)和取样模块(8)的连接处设置有活动限位杆(901),且活动限位杆(901)的内端外侧设置有与取样模块(8)内侧的第一阻尼式橡胶块(902),所述活动限位杆(901)的内部设置有调节栓(90...

【专利技术属性】
技术研发人员:请求不公布姓名请求不公布姓名
申请(专利权)人:云南省有色地质局三一三队
类型:新型
国别省市:

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