一种太空容器位姿测量装置、方法、设备、介质及产品制造方法及图纸

本申请公开了一种太空容器位姿测量装置、方法、设备、介质及产品，涉及三维位姿测量领域，该装置包括：图像拍摄装置、结构光发生装置和数据处理终端，结构光发生装置用于向待测太空容器发射多线和单线结构光，多线结构光与单线结构光相互垂直；图像拍摄装置用于拍摄受多线和单线结构光照射的待测太空容器图像，数据处理终端用于根据图像上各交点在像素坐标系下的坐标值得到各交点在图像拍摄装置坐标系下的坐标值；基于各交点在图像拍摄装置坐标系下的坐标值得到各光条对应的平面方程；根据各光条对应的平面方程和各点在像素坐标系下的坐标值得到待测太空容器的位姿。本申请可对太空容器的位姿进行实时测量，以实现对太空容器进行精准捕捉。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及三维位姿测量领域，特别是涉及一种太空容器位姿测量装置、方法、设备、介质及产品。

技术介绍

1、空间在轨场景中，在对太空容器进行捕获时，需要事先获取到太空容器的位姿信息，对太空容器位姿的精确感知往往直接决定了是否能够准确捕捉到太空容器。而在目前的空间在轨场景中，针对合作目标的三维测量系统主要为单目三维位姿测量系统与双目/多目三维测量系统，为了提高系统的测量精度，这两种测量系统通常需要在被测目标上布置一定数量的靶标，靶标的数量与布局方式严重影响系统的测量精度，而由于太空容器表面空间有限，难以布置密集的靶标，导致使用单目或多目三维测量系统无法对太空容器的位姿进行实时测量，从而导致无法对太空容器进行精准捕捉。

技术实现思路

1、本申请的目的是提供一种太空容器位姿测量装置、方法、设备、介质及产品，可对太空容器的位姿进行实时测量，以实现对太空容器进行精准捕捉。

2、为实现上述目的，本申请提供了如下方案：

3、第一方面，本申请提供了一种太空容器位姿测量装置，包括：>

4、图像拍摄本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种太空容器位姿测量装置，其特征在于，所述太空容器位姿测量装置包括：

2.根据权利要求1所述的太空容器位姿测量装置，其特征在于，所述结构光发生装置包括：多线激光器和单线激光器；所述多线激光器用于向待测太空容器发射多线结构光，所述单线激光器用于向待测太空容器发射单线结构光。

3.一种太空容器位姿测量方法，其特征在于，应用于上述权利要求1-2中任一项所述的太空容器位姿测量装置，所述太空容器位姿测量方法包括：

4.根据权利要求3所述的太空容器位姿测量方法，其特征在于，在获取待处理图像中各交点在像素坐标系下的坐标值之前还包括：

<p>5.根据权利要求...

【技术特征摘要】

1.一种太空容器位姿测量装置，其特征在于，所述太空容器位姿测量装置包括：

2.根据权利要求1所述的太空容器位姿测量装置，其特征在于，所述结构光发生装置包括：多线激光器和单线激光器；所述多线激光器用于向待测太空容器发射多线结构光，所述单线激光器用于向待测太空容器发射单线结构光。

3.一种太空容器位姿测量方法，其特征在于，应用于上述权利要求1-2中任一项所述的太空容器位姿测量装置，所述太空容器位姿测量方法包括：

4.根据权利要求3所述的太空容器位姿测量方法，其特征在于，在获取待处理图像中各交点在像素坐标系下的坐标值之前还包括：

5.根据权利要求3所述的太空容器位姿测量方法，其特征在于，待处理图像中各交点的确定过程，具体包括：

6.根据权利要求3所述的太空容器位姿测量方法，其特征在于，所述基于各交点在图像拍摄装置坐标系下的坐标值以...

【专利技术属性】
技术研发人员：高重民，刘柯健，张震，徐起，赵大亮，
申请(专利权)人：上海大学，
类型：发明
国别省市：