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基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法及装置制造方法及图纸

技术编号:43787165 阅读:16 留言:0更新日期:2024-12-24 16:20
基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法及装置,该方法在待分析区域设定三个瞄点,在低加速电压和高加速电压下进行分析,分别获取三个瞄点的第一、第二瞄点位置坐标和每个颗粒的第一、第二颗粒位置坐标;获取三个瞄点的位置坐标差;计算获取瞄点的位置坐标差对颗粒的权重;计算获取每个颗粒在进行第二次分析时的预测中心坐标;计算获取每个颗粒在进行第二次分析时的坐标范围;搜索满足坐标范围的颗粒对每个颗粒的分析结果进行处理,获取每个颗粒的最终分析结果。本发明专利技术能够结合计算机控制扫描电镜——能谱技术在高加速电压下元素分析能力和低加速电压下成像能力的优势,更准确地捕获滤膜上的环境颗粒物。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及大气颗粒物分析检测,具体涉及一种基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法及装置


技术介绍

1、大气颗粒物污染是我国近十年来最严重的环境问题之一。扫描电镜结合能谱分析方法是一种常用的大气单颗粒分析方法,它可以分析获取单个大气颗粒物的形态和元素组成。计算机控制扫描电镜——能谱(ccsem-eds)技术的发展实现了样品的自动定位、图像采集和成分分析,近年来被广泛应用于大气颗粒物的样品的表征。

2、目前,为使ccsem-eds获得较好的分析效果,在颗粒物样品采集和电镜参数设置有较为特殊的要求。首先,采样的滤膜需光滑平整,聚碳酸酯(pc)滤膜是目前最常用的用于ccsem-eds分析的大气颗粒物采样滤膜;其次,选择较高的加速电压(如20kev),较低的加速电压不足以激发样品中高原子序数原子产生x射线,从而影响颗粒物元素分析的准确性和精确度;此外,为使颗粒和膜片成像后有较高的反差,颗粒物常基于bse检测器信号阈值自动识别。然而,高加速电压(如20kev)有较强的穿透能力,ccsem-eds识别与滤膜(如pc)化学成分相近的颗粒(如碳质颗粒本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法,其特征在于,在根据每个颗粒的所述第一颗粒位置坐标,通过计算获取每个颗粒到所述三个瞄点中每个瞄点的距离的过程中,每个颗粒到所述三个瞄点中每个瞄点距离的计算公式为:

3.根据权利要求2所述的基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法,其特征在于,在根据每个颗粒到所述三个瞄点中每个瞄点的距离,计算获取所述三个瞄点中每个瞄点的所述位置坐标差对每个颗粒的权重的过程中,每个瞄点的所述位置坐标差对每个颗粒的权重的计算公式为:

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【技术特征摘要】

1.基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法,其特征在于,在根据每个颗粒的所述第一颗粒位置坐标,通过计算获取每个颗粒到所述三个瞄点中每个瞄点的距离的过程中,每个颗粒到所述三个瞄点中每个瞄点距离的计算公式为:

3.根据权利要求2所述的基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法,其特征在于,在根据每个颗粒到所述三个瞄点中每个瞄点的距离,计算获取所述三个瞄点中每个瞄点的所述位置坐标差对每个颗粒的权重的过程中,每个瞄点的所述位置坐标差对每个颗粒的权重的计算公式为:

4.根据权利要求3所述的基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法,其特征在于,在通过所述反距离加权策略计算获取每个颗粒在进行所述第二次分析时的预测中心坐标的过程中,每个颗粒在进行所述第二次分析时的预测中心坐标的计算公式为:

5.根据权利要求4所述的基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析方法,其特征在于,在根据每个颗粒的所述最大粒径数据,计算获取每个颗粒在进行所述第二次分析时的坐标范围的过程中,所述坐标范围表达式为:

6.基于高低加速电压耦合分析的大气颗粒物分析装置,采用以上权利要求1-5所述的基于高低加速电压耦合分析的...

【专利技术属性】
技术研发人员:赵鹏赵普生李江冯银厂毕晓辉贺艳云
申请(专利权)人:南开大学
类型:发明
国别省市:

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