一种电子负载电路及其带载能力测试方法技术

技术编号:43757630 阅读:48 留言:0更新日期:2024-12-20 13:12
本发明专利技术公开了一种电子负载电路及其带载能力测试方法。该电路包括运算放大器、控制元件、参考电压生成单元、至少一个取样电阻、第一开关组和第二开关。控制元件的控制端与运算放大器输出端连接,输入端作为电路输入端。参考电压生成单元输出端可选择性连接到运算放大器输入端。取样电阻一端与控制元件输出端连接,另一端接地。第一开关组用于选择性连接参考电压到运算放大器的反相或同相输入端。第二开关用于选择性地将控制元件的输出端连接到运算放大器的反相输入端。通过控制开关组合和调节参考电压,实现多种负载控制模式。本发明专利技术结构简单,成本低廉,适用于低压环境测试,可精确控制负载参数,满足芯片等低压半导体的带载能力测试需求。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及电子负载,特别是涉及一种电子负载电路及其带载能力测试方法


技术介绍

1、电子负载在电源测试、电子元器件测试以及半导体器件测试中起着至关重要的作用。它们通过模拟实际工作条件下的负载,帮助验证电源设备和电子元器件的性能、稳定性和可靠性。然而,现有的电子负载设备存在一些显著的问题。

2、传统的电子负载设备通常采用高精度控制电路和高性能元器件,价格昂贵。这对于研发预算有限的单位来说,构成了一定的经济压力,限制了其在研发和测试过程中的应用。

3、此外,现有电子负载设备的结构往往比较复杂。这种复杂性不仅增加了设备的成本,还导致操作和维护需要较高的技术水平。对于非专业用户和中小型实验室,使用和维护这些设备可能会面临较大困难,影响了测试效率和准确性。

4、更为重要的是,许多传统电子负载设备在设计时主要针对高压大功率应用,对低压环境下的应用支持较少。这一特点使得它们在测试一些低压半导体器件或小型电源模块时表现不佳。特别是在芯片数字、模拟引脚和芯片内部ldo(低压差线性稳压器)驱动能力测试等低压应用中,现有电子负载设备的性能本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种电子负载电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的电子负载电路,其特征在于,所述第一开关组包括:

3.根据权利要求1所述的电子负载电路,其特征在于,还包括第三开关,其一端与所述电子负载电路的输入端连接,另一端与所述运算放大器的同相输入端连接。

4.根据权利要求1所述的电子负载电路,其特征在于,所述参考电压生成单元包括:

5.根据权利要求1所述的电子负载电路,其特征在于,所述控制元件为三极管或MOS管,其基极或栅极作为控制端,集电极或漏极作为输入端,发射极或源极作为输出端。

6.根据权利要求1所述的电子负载电路,其...

【技术特征摘要】

1.一种电子负载电路,其特征在于,包括:

2.根据权利要求1所述的电子负载电路,其特征在于,所述第一开关组包括:

3.根据权利要求1所述的电子负载电路,其特征在于,还包括第三开关,其一端与所述电子负载电路的输入端连接,另一端与所述运算放大器的同相输入端连接。

4.根据权利要求1所述的电子负载电路,其特征在于,所述参考电压生成单元包括:

5.根据权利要求1所述的电子负载电路,其特征在于,所述控制元件为三极管或mos管,其基极或栅极作为控制端,集电极或漏极作为输入端,发射极或源极作为输出端。

6.根据权利要求1所述的电子负载电路,其特征在于,还包括:

【专利技术属性】
技术研发人员:周智达罗靖张武
申请(专利权)人:上海海栎创科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:

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