导航芯片的插口测试方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种导航芯片的插口测试方法、装置、设备及存储介质，包括以下步骤：对目标导航芯片的插口内引脚进行多频段信号注入，得到初始响应信号；对所述初始响应信号进行频域分析，得到频域特性曲线；基于所述频域特性曲线对所述插口的电磁兼容性进行性能评估，得到EMC性能评分；判断所述EMC性能评分是否在预设的性能评分范围内，若不在，则通过预设EMC性能指标对插口的电磁兼容性进行多维度评判，得到多维度评判结果；基于所述多维度评判结果对所述插口进行故障因子识别，得到故障因子报告；基于所述故障因子报告制定所述目标导航芯片的插口修复方案，解决了工作环境复杂多变，导航芯片的接口易出现故障，影响整个系统的稳定运行的技术问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及导航芯片，特别涉及一种导航芯片的插口测试方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

1、随着电子信息技术的快速发展，导航系统作为现代交通、军事、航空等领域不可或缺的一部分，其性能与可靠性直接影响着相关应用的安全性和效率。导航芯片作为导航系统的核心组件，承担着信号接收、处理与输出的重要任务。然而，在实际应用中，由于工作环境复杂多变，如电磁干扰严重、温度变化大等因素，导航芯片的接口易出现故障，影响整个系统的稳定运行。因此，开发一种能够有效检测并评估导航芯片接口性能的方法显得尤为重要。

2、目前，对于导航芯片接口的测试主要依赖于传统的功能测试方法，这些方法往往只能在特定条件下对芯片的功能进行简单验证，无法全面评估接口在实际使用环境中的性能表现，特别是电磁兼容性（emc）。电磁兼容性是衡量电子设备在电磁环境中正常工作的能力，对于确保导航芯片在各种复杂电磁环境下稳定可靠地工作具有重要意义。现有的测试手段往往难以准确模拟复杂的电磁环境，导致测试结果与实际情况存在较大偏差，从而影响了故障诊断的准确性及后续修复措施的有效性。>

3、鉴于上述本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种导航芯片的插口测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的导航芯片的插口测试方法，其特征在于，所述对目标导航芯片的插口内引脚进行多频段信号注入，得到初始响应信号，包括：

3.根据权利要求1所述的导航芯片的插口测试方法，其特征在于，所述对所述初始响应信号进行频域分析，得到频域特性曲线，包括：

4.根据权利要求1所述的导航芯片的插口测试方法，其特征在于，所述基于所述频域特性曲线对所述插口的电磁兼容性进行性能评估，得到EMC性能评分，包括：

5.根据权利要求1所述的导航芯片的插口测试方法，其特征在于，所述通过预设EMC性...

【技术特征摘要】

1.一种导航芯片的插口测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

2.根据权利要求1所述的导航芯片的插口测试方法，其特征在于，所述对目标导航芯片的插口内引脚进行多频段信号注入，得到初始响应信号，包括：

3.根据权利要求1所述的导航芯片的插口测试方法，其特征在于，所述对所述初始响应信号进行频域分析，得到频域特性曲线，包括：

4.根据权利要求1所述的导航芯片的插口测试方法，其特征在于，所述基于所述频域特性曲线对所述插口的电磁兼容性进行性能评估，得到emc性能评分，包括：

5.根据权利要求1所述的导航芯片的插口测试方法，其特征在于，所述通过预设emc性能指标对所述插口的电磁兼容性进行多维度评判，得到多维度评判结果，包括：

【专利技术属性】
技术研发人员：庄晓鹏，郑传锋，江雄，谢院生，
申请(专利权)人：蓝芯存储技术赣州有限公司，
类型：发明
国别省市：