存储装置及其回收操作方法制造方法及图纸

技术编号:43691626 阅读:19 留言:0更新日期:2024-12-18 21:09
公开了存储装置及其回收操作方法。所述存储装置包括:闪存,包括选择的字线和与选择的字线相邻的相邻字线;以及存储器控制器,被配置为:在读取操作期间将选择读取电压提供给选择的字线,并且将通过电压提供给所述相邻字线,通过电压高于选择读取电压,其中,存储器控制器还被配置为:基于所述相邻字线的劣化水平来确定选择的字线是否是热点读取字线,并且当选择的字线是热点读取字线时,对所述相邻字线执行字线回收操作。

【技术实现步骤摘要】

在此描述的本公开的示例实施例涉及半导体存储器装置,并且更具体地,涉及包括读取回收模块的存储装置及其回收操作方法


技术介绍

1、半导体存储器可分为两种主要类型:易失性存储器和非易失性存储器。与非易失性存储器相比,易失性存储器(例如,动态随机存取存储器(dram)或静态随机存取存储器(sram))通常提供更快的读取速度和写入速度。然而,一旦断电,易失性存储器中的数据就会丢失。相反,非易失性存储器即使在没有电力的情况下也保存数据。

2、闪存为可在单个存储器单元中存储多个数据位(通常两位或更多)的非易失性存储器的常见形式。闪存可具有由阈值电压分布确定的至少一个擦除状态和多个编程(例如,写入)状态。

3、闪存在它的编程状态中的每个状态之间包含读取裕度,以确保数据完整性。然而,闪存单元的阈值电压可能由于各种原因(诸如,耦合噪声、通过电压干扰、编程电压干扰或读取通过电压干扰)而偏移。这些变化可导致存储器单元的阈值电压增加,从而导致第一编程状态与第二编程状态之间的重叠。

4、在闪存中的读取操作期间,可将选择读取电压提供给选择的字线,并本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种存储装置,包括:

2.根据权利要求1所述的存储装置,

3.根据权利要求2所述的存储装置,

4.根据权利要求2所述的存储装置,

5.根据权利要求2所述的存储装置,

6.根据权利要求5所述的存储装置,

7.根据权利要求2所述的存储装置,

8.根据权利要求7所述的存储装置,

9.根据权利要求2所述的存储装置,

10.根据权利要求2所述的存储装置,

11.一种存储装置,包括:

12.根据权利要求11所述的存储装置,

13.根据权利要求11所述的存...

【技术特征摘要】

1.一种存储装置,包括:

2.根据权利要求1所述的存储装置,

3.根据权利要求2所述的存储装置,

4.根据权利要求2所述的存储装置,

5.根据权利要求2所述的存储装置,

6.根据权利要求5所述的存储装置,

7.根据权利要求2所述的存储装置,

8.根据权利要求7所述的存储装置,

9.根据权利要求2所述的存储装置,

10.根据权利要求2所述的存储装置,

11.一种存储装置,包括:

12...

【专利技术属性】
技术研发人员:李东浩李世雄千允洙
申请(专利权)人:三星电子株式会社
类型:发明
国别省市:

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