【技术实现步骤摘要】
本申请涉及pind检测领域，特别是一种独立通道检测设备及其检测方法。
技术介绍
1、微粒碰撞噪声检测(particle impact noise detection，pind)是检测元器件可靠性程度的一种系统，常用于检测集成电路、晶体管、电容器、航空/航天/军事领域的继电器等电子元器件封装内的多余物松散颗粒。
2、传统的pind检测设备，一个传感器只有一个检测区域，因此一次只能检测一个元件，检测效率较低。后续的改进设备中，一个传感器有一个以上的检测区域，但是多个检测区域只能合成显示，即当同一次检测多个检测元件，若检测结果显示存在多余物，该设备并不能直接得出是其中哪一个检测元件存在多余物，只能对该批次的各个检测元件重新单独检测。因此，该类设备并不能实际运用于多个元器件多余物同时鉴别的场景，甚至需要多次反复检测，检测效率低下。可见，现有pind设备并不能完全满足现场检测的实际需求。
技术实现思路
1、有鉴于此，本申请的目的是提供一种独立通道检测设备及其检测方法，可以同时检测多个检测...
【技术保护点】
1.一种独立通道检测设备，其特征在于：包括合成传感器和显示设备，所述合成传感器通过多个通道与所述显示设备连接，所述合成传感器的信号经所述通道独立显示于所述显示设备。
2.根据权利要求1所述的独立通道检测设备，其特征在于：所述合成传感器设有多个敏感元件和多个信号引出口，各所述信号引出口与所述敏感元件一一对应设置；
3.根据权利要求2所述的独立通道检测设备，其特征在于：所述合成传感器包括
4.根据权利要求1所述的独立通道检测设备，其特征在于：所述合成传感器设有：
5.根据权利要求2所述的独立通道检测设备，其特征在于：所述合成...
【技术特征摘要】
1.一种独立通道检测设备，其特征在于：包括合成传感器和显示设备，所述合成传感器通过多个通道与所述显示设备连接，所述合成传感器的信号经所述通道独立显示于所述显示设备。
2.根据权利要求1所述的独立通道检测设备，其特征在于：所述合成传感器设有多个敏感元件和多个信号引出口，各所述信号引出口与所述敏感元件一一对应设置；
3.根据权利要求2所述的独立通道检测设备，其特征在于：所述合成传感器包括
4.根据权利要求1所述的独立通道检测设备，其特征在于：所述合成传感器设有：
5.根据权利要求2所述的独立通道检测设备，其特征在于：所述合成传感器设有用于容纳多个外围敏感元件的外围检测区域，所述外围检测区域设有敏感增强部，所述敏感增强部用于协调各所述外围敏感元件的检测一...
【专利技术属性】
技术研发人员：翟国富，韩笑，王强，李鹏飞，战玉良，曹嘉君，刘祁龙，孟令洋，乔恩旭，
申请(专利权)人：哈尔滨宇高电子技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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