【技术实现步骤摘要】
本申请涉及图像处理，特别是涉及一种图像处理方法、缺陷检测方法及相关装置和存储介质。
技术介绍
1、目前，对目标对象的表面（如，电芯的包膜面、电芯的壳体面等）的检测，由于在单光源条件下难以识别各种类型的缺陷，所以，大多采用多光源的成像方案。
2、但是，如果直接处理多光源原始图像，无论是单独处理每个光源的单通道图像，还是直接拼接多光源图像来处理简单拼接后的图像，都无法覆盖所有类型缺陷的缺陷特征；所以，需要寻找一种快速且有效的图像处理方法，能够对各种类型的缺陷进行特征增强，从而实现在一张图上可以识别所有类型缺陷。
技术实现思路
1、本申请至少提供一种图像处理方法、缺陷检测方法及相关装置和存储介质。
2、本申请第一方面提供一种图像处理方法，该方法包括：获取目标对象的多张原始图像；其中，多张原始图像是图像采集装置分别对不同光源条件下的目标对象的表面进行采集得到，不同光源条件包括光源类型、光源照射方向中的至少一者；利用多张原始图像，得到分别对应不同缺陷类型的至少两个通道图像；其...
【技术保护点】
1.一种图像处理方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标对象为电芯，所述表面为电芯的包膜面或壳体面，所述缺陷类型包括表面深度缺陷、表面非深度缺陷、内部缺陷中的至少一者。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷类型包括表面深度缺陷，所述多张原始图像包括至少两张第一表面图像，各所述第一表面图像的光源照射方向不同；
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述至少两张第一表面图像进行对应所述表面深度缺陷的增强处理，得到对应所述表面深度缺陷的第一通道图像，包括：
5...
【技术特征摘要】
1.一种图像处理方法，其特征在于，所述方法包括：
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述目标对象为电芯，所述表面为电芯的包膜面或壳体面，所述缺陷类型包括表面深度缺陷、表面非深度缺陷、内部缺陷中的至少一者。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷类型包括表面深度缺陷，所述多张原始图像包括至少两张第一表面图像，各所述第一表面图像的光源照射方向不同；
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述对所述至少两张第一表面图像进行对应所述表面深度缺陷的增强处理，得到对应所述表面深度缺陷的第一通道图像，包括：
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述预设处理包括所述差值放大、亮度调整、通道截断和归一化处理；
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷类型包括表面非深度缺陷，所述多张原始图像包括所述表面非深度缺陷相关的第二表面图像；所述利用所述多张原始图像，得到分别对应不同缺陷类型的至少两个通道图像，包括：
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述第二表面图像的数量为至少两张，各所述第二表面图像的光源照射方向不同；所述对所述第二表面图像进行对应所述表面非深度缺陷的增强处理，得到对应所述表面非深度缺陷的第二通道图像，包括：
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述对各所述第二表面...
【专利技术属性】
技术研发人员：官旭坤，江冠南，秦司益，
申请(专利权)人：宁德时代新能源科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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