【技术实现步骤摘要】
本揭露是关于一种测试存储器的系统及方法，特别是关于一种使用突波信号测试存储器的系统及方法。
技术介绍
1、随着存储器的工艺技术快速发展，存储器的尺寸日益缩小且同时具有高密度的电路。较高密度的电路有益于存储器的速度及效能，然而错误及制造上的问题相应地增加。为确保产品的可靠度及良率，如何有效地测试存储器至关重要。
技术实现思路
1、在一些实施例中，提供一种测试存储器的系统。系统包含存储器装置及测试装置。测试装置，操作性地耦接存储器装置且根据数据信号，为着存储器装置的写入操作传输多个突波信号及在此些突波信号之后的多个控制信号。测试装置还基于数据信号的写入数据，判断存储器装置的读取操作中输出的读取数据是否为位元移位的以产生测试结果，测试结果指示此些突波信号所导致的对写入操作的干扰。
2、在一些实施例中，测试装置操作性地耦接存储器装置的第一数据选通接脚及第二数据选通接脚，第一及第二数据选通接脚接收差分数据选通信号对，其中差分数据选通信号对包含此些控制信号。测试装置还输出此些突波信号中的第...
【技术保护点】
1.一种测试存储器的系统，其特征在于，包含:
2.根据权利要求1所述的系统，其中该测试装置操作性地耦接该存储器装置的第一数据选通接脚及第二数据选通接脚，该第一及第二数据选通接脚用以接收差分数据选通信号对，其中该差分数据选通信号对包含该些控制信号，
3.根据权利要求1所述的系统，其中在该写入操作中，该存储器装置用以响应于在该些突波信号的第一突波信号以及该些空置信号的第一控制信号中的至少三个上升/下降沿，锁存该数据信号的数据。
4.根据权利要求3所述的系统，其中该第一突波信号在第一区间中具有第一电压位准，并且在该第一区间之后的第二区间中...
【技术特征摘要】
1.一种测试存储器的系统，其特征在于，包含:
2.根据权利要求1所述的系统，其中该测试装置操作性地耦接该存储器装置的第一数据选通接脚及第二数据选通接脚，该第一及第二数据选通接脚用以接收差分数据选通信号对，其中该差分数据选通信号对包含该些控制信号，
3.根据权利要求1所述的系统，其中在该写入操作中，该存储器装置用以响应于在该些突波信号的第一突波信号以及该些空置信号的第一控制信号中的至少三个上升/下降沿，锁存该数据信号的数据。
4.根据权利要求3所述的系统，其中该第一突波信号在第一区间中具有第一电压位准，并且在该第一区间之后的第二区间中具有第二电压位准。
5.根据权利要求3所述的系统，其中当该第一区间及该第二区间的比值在0.025至0.075之间时，该读取数据和该写入数据不一致。
6.根据权利要求3所述的系统，其中当该第一区间及该第二区间的比值在0.15至0.25之间时，该读取数据和该写入数据一致。
7.根据权利要求1所述的系统，其中当该读取数据相比于该写入数据为位元移位的，该读取数据及该写入数据中的至少一不一致的位元具有高逻辑值。
【专利技术属性】
技术研发人员：许瑞中，方琬珺，
申请(专利权)人：南亚科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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