中波红外制冷连续变焦透射式微扫描型光学系统技术方案

技术编号:43660982 阅读:35 留言:0更新日期:2024-12-13 12:51
本技术提供一种中波红外制冷连续变焦透射式微扫描型光学系统,包括沿光线传播方向从物方至像方依次排列的第一固定透镜、变倍透镜、补偿透镜组、第二固定透镜、第一反射镜、第二反射镜、第三固定透镜组、微扫描透镜,其中补偿镜组包括第一补偿透镜、第二补偿透镜,第三固定镜组包括第三固定透镜、第四固定透镜。通过引入微扫描透镜,有效提升空间分辨率,且微扫描透镜精度高,易于保证光轴一致性。通过微扫描透镜焦距和公差优化,实现了不同变焦点位置的微扫描透镜位移与像点位移能够保持准确的比例关系,并且在微扫描过程中,不会对光学系统的像质产生影响,实现对50m至无穷远的物距进行调焦。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种光学系统,特别是中波红外制冷连续变焦透射式微扫描型光学系统,属于光电探测。


技术介绍

1、在光电探测系统中,图像空间分辨率的高低将直接影响对目标的探测距离。在某些情况下,由于红外探测器阵列的欠采样,导致红外连续变焦光学系统的光学分辨率不能够被有效利用,因而造成最终图像的空间分辨率下降。微扫描成像技术通过对同一场景的多次重复采样,用多幅相互之间有微小位移、时间序列上连续的多帧低分辨率图像,重建一幅高分辨率图像,以减少由于欠采样所带来的图像混叠效应。按微扫描使用的光学元件可分为透射式微扫描和反射式微扫描两种,其中:透射式微扫相比于反射式微扫描,其优势是可以为光学系统减少一次光路折转,更有利于保证光轴一致性、且微扫描精度高。但目前现有技术中还缺乏连续变焦型的透射式微扫描光学系统,该类光学系统的设计难点在于,在连续变焦的任一焦段,必须保证微扫描透镜的位移与焦平面的位移满足既定的比例关系,并且使得光学系统的像质对微扫描透镜的位移不敏感,否则将导致微扫透镜的伺服难度大大增加,进而降低成像质量。因此有必要对现有技术加以改进。

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技本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种中波红外制冷连续变焦透射式微扫描型光学系统,包括沿光线传播方向从物方至像方依次排列的第一固定透镜、变倍透镜、补偿透镜组、第二固定透镜、第一反射镜、第二反射镜、第三固定透镜组、微扫描透镜,其中补偿镜组包括第一补偿透镜、第二补偿透镜,第三固定镜组包括第三固定透镜、第四固定透镜,其特征在于:

2.根据权利要求1所述的中波红外制冷连续变焦透射式微扫描型光学系统,其特征在于所述光学系统的工作波段为3.7μm~4.8μm,F数为3。

3.根据权利要求1所述的中波红外制冷连续变焦透射式微扫描型光学系统,其特征在于所述变倍透镜与补偿透镜组设为沿轴向移动的透镜。

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【技术特征摘要】

1.一种中波红外制冷连续变焦透射式微扫描型光学系统,包括沿光线传播方向从物方至像方依次排列的第一固定透镜、变倍透镜、补偿透镜组、第二固定透镜、第一反射镜、第二反射镜、第三固定透镜组、微扫描透镜,其中补偿镜组包括第一补偿透镜、第二补偿透镜,第三固定镜组包括第三固定透镜、第四固定透镜,其特征在于:

2.根据权利要求1所述的中波红外制冷连续变焦透射式微扫描型光学...

【专利技术属性】
技术研发人员:杨丹杨开宇金宁刘愚董树林徐曼李江
申请(专利权)人:昆明物理研究所
类型:新型
国别省市:

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