【技术实现步骤摘要】
本技术涉及产品检测，尤其涉及一种陶瓷缺陷检测的下料保护装置。
技术介绍
1、陶瓷缺陷检测是指通过使用各种技术和方法来检测陶瓷制品中可能存在的缺陷或质量问题。这些缺陷可能包括裂纹、破损、气孔、异物、色差等。目前一些常见的陶瓷检测方法包括x射线检测、超声波检测、热成像检测、光学显微镜检测、高分辨率扫描电子显微镜（sem）、红外光谱分析等， 陶瓷检测步骤通常都是先码垛输送上料，再由理料机理料整齐至输送带上进行送料，待其输送至检测转盘上进行旋转，再旋转过程中利用高速相机进行拍照检测，随后合格的与不合格的进行分批下料。
2、其中下料过程中，由于陶瓷本身具有极高的脆性和易碎性，再受到外力冲击过大时容易发生断裂或破碎，并且难以修复，大多数陶瓷检测输送装置在检测结束后会将陶瓷转移至下料输送带上，以便打包下料至容器中，而在下料过程中，尤其是转移或下料至容器中时，由于输送带边缘高度差较大，陶瓷极易与设备边缘或下料区域发生碰撞，导致陶瓷出现裂痕或破碎，影响陶瓷的使用效果，同时也会影响该批次陶瓷检测的数据结果。
技术实现
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1.一种陶瓷缺陷检测的下料保护装置，其特征在于，包括安装在陶瓷检测输送带（1）一端的下料保护结构（2）；
2.根据权利要求1所述的一种陶瓷缺陷检测的下料保护装置，其特征在于，所述调节孔一（23）为弧形，且所述下料板（25）两侧设有与所述调节孔一（23）对应的螺柱（251），所述螺柱（251）配套设有调节螺母（252），所述调节螺母（252）作用在所述调节孔一（23）外侧。
3.根据权利要求1所述的一种陶瓷缺陷检测的下料保护装置，其特征在于，所述下料板（25）与所述陶瓷检测输送带（1）的一端衔接处为曲面，且顶部平面与所述陶瓷检测输送带（1）的顶部
<...【技术特征摘要】
1.一种陶瓷缺陷检测的下料保护装置，其特征在于，包括安装在陶瓷检测输送带（1）一端的下料保护结构（2）；
2.根据权利要求1所述的一种陶瓷缺陷检测的下料保护装置，其特征在于，所述调节孔一（23）为弧形，且所述下料板（25）两侧设有与所述调节孔一（23）对应的螺柱（251），所述螺柱（251）配套设有调节螺母（252），所述调节螺母（252）作用在所述调节孔一（23）外侧。
3.根据权利要求1所述的一种陶瓷缺陷检测的下料保护装置，其特征在于，所述下料板（25）与所述陶瓷检测输送带（1）的一端衔接处为曲面，且顶部平面与所述陶瓷检测输送带（1）的顶部平面齐平。
4.根据权利要求1所述的一种陶瓷缺陷检测的下料保护装置，其特征在于，所述调节孔二（24）为竖直形，且所述缓冲套板（282）两侧设有与所述调节孔二（24）对应的定位螺柱（284），所述定位螺柱（284）对应配套有固定螺母（285），所述固定螺母（285）作用在所述调节孔二（24）外侧。
5.根据权利要求1所述的一种陶瓷缺...
【专利技术属性】
技术研发人员：林志强，吴冈，倪长乐，陈自强，
申请(专利权)人：江苏九达智能制造技术有限责任公司，
类型：新型
国别省市：
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