基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统及方法技术方案

技术编号:43617110 阅读:18 留言:0更新日期:2024-12-11 14:59
本发明专利技术提出一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统及方法,系统包括雷达固定架和雷达组;雷达固定架包括垂直于地面的参考板,分别平行固定于所述参考板底部、中部和顶部的第一平面、第二平面和第三平面;第二平面与参考板之间设置第一竖直面和第一斜面,第一斜面位于第一竖直面上方;雷达组包括:0号雷达,水平固定在第一平面,用于测量待测平面与测量系统最近的一边,与参考板的夹角;1号雷达,垂直固定在第一竖直面,用于测量待测平面垂直于参考板的长度;2号雷达,倾斜固定在第一斜面,用于测量待测平面平行于参考板的长度。通过调整激光雷达的扫描角度和位置,实现对复杂场景下平面尺寸的精确测量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于雷达数据处理,尤其涉及一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统及方法


技术介绍

1、在工业场景中,目标尺寸测量是一项至关重要的任务,涉及到多个领域,如制造业、物流业、航空航天等。常用的目标尺寸测量技术通常是使用高分辨率的工业相机拍摄目标物体的图像,并通过计算机视觉算法对图像进行处理和分析,提取出目标物体的边缘、轮廓等特征信息,从而计算出其尺寸。这种方法在自动化生产线上应用广泛。

2、然而,在涉及保密需求的工业场景中,需要避免使用摄像头等可能泄露敏感信息的设备来进行平面尺寸测量。此时,雷达技术因其非接触、不受光线条件限制以及能够保持一定距离进行测量的特性,成为了替代摄像头的理想选择。

3、激光雷达通过发射激光束并接收其反射回来的信号来测量目标物体的距离和角度等信息。在目标尺寸测量中,激光雷达可以生成高精度的点云数据,从而实现对目标物体尺寸的精确测量。

4、在针对平面尺寸测量的任务中,三维激光雷达能够通过生成高精度的三维点云数据来提供详尽的空间信息,进而支持精确的平面尺寸测量。但是受扫描范围、扫描精度等的影响,本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统,其特征在于,包括雷达固定架和雷达组;

2.如权利要求1所述的一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统,其特征在于,所述第一竖直面分别垂直于第二平面和参考板;所述第一斜面与第二平面和参考板围成的空间为三棱柱。

3.如权利要求1所述的一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统,其特征在于,所述雷达组中的各雷达分布在一条垂直于地面的直线上。

4.如权利要求1所述的一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统,其特征在于,还包括计算模块,用于基于由0号雷达测量的夹角,修正1号雷达和2号雷达测量的待测平面边长。

5.一...

【技术特征摘要】

1.一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统,其特征在于,包括雷达固定架和雷达组;

2.如权利要求1所述的一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统,其特征在于,所述第一竖直面分别垂直于第二平面和参考板;所述第一斜面与第二平面和参考板围成的空间为三棱柱。

3.如权利要求1所述的一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统,其特征在于,所述雷达组中的各雷达分布在一条垂直于地面的直线上。

4.如权利要求1所述的一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统,其特征在于,还包括计算模块,用于基于由0号雷达测量的夹角,修正1号雷达和2号雷达测量的待测平面边长。

5.一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量方法,采用如权利要求1-4任一项所述的一种基于二维雷达的平面尺寸协同测量系统,其特征在于,包括:

6.如权利要求5所述的一种基于二维雷...

【专利技术属性】
技术研发人员:让伟隋晓丹盖新亭肖航姜岩芸
申请(专利权)人:山东师范大学
类型:发明
国别省市:

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