一种多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法制造方法及图纸

技术编号:43609991 阅读:26 留言:0更新日期:2024-12-11 14:54
本发明专利技术公开一种多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法,涉及计算机视觉领域。该多线激光联合装置,包括输送架,所述输送架的上方固定设置有多个支架以及安装于支架上的多组检测单元,任一组检测单元包括两个上下相对安装的第一线激光相机和第二线激光相机,第一线激光相机和第二线激光相机与支架之间均设置有平移调节单元。该多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法,采用6个3D线激光相机组合成的联合装置,能够检测并量化微晶玻璃表面线痕缺陷以及测量厚度和TTV;微晶玻璃是半透明状,采用分时触发的方式,能够避免主、副相机的激光线互相干扰。提出的数据融合方法能够对噪点进行抑制,并且减少了产品抖动对厚度、TTV测量的影响。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及计算机视觉,具体为一种多线激光联合装置及微晶玻璃检测方法


技术介绍

1、微晶玻璃是利用高速运动的钢线携带附着在钢线上的磨料对玻璃块进行研磨从而达到切割玻璃的目的。在实际操作时,会因为突发情况停机重启,钢线不能按照原位置切割;钢线断开后焊接点粗细、硬度不同;承载台转速、主轴进给速度和转速参数的调整等各种原因,会使微晶玻璃不可避免地产生多种缺陷,其中,厚度、ttv(total thicknessvariation,总厚度变化)以及线痕这三项指标对微晶玻璃质量影响较大,是目前微晶玻璃生产厂家必不可少的检测环节。

2、目前国内外对玻璃材料的厚度、ttv以及线痕检测的研究较少。在公开号为cn118067071a的专利文献《一种光学玻璃表面粗糙度检测装置》采用接触式测量方法,通过触针接触到光学玻璃上的包覆件进行粗糙度检测。在公开号为cn220913008u的专利文献《一种玻璃基板外观检测设备》、公开号为cn117990719a的专利文献《一种曲面玻璃缺陷的检测方法》、公开号为cn117517348a的专利文献《基于微晶玻璃面板成品的表面缺陷本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种多线激光联合装置,包括输送架(1),其特征在于,所述输送架(1)的上方固定设置有多个支架(2)以及安装于支架(2)上的多组检测单元(3),任一组检测单元(3)包括两个上下相对安装的第一线激光相机(31)和第二线激光相机(32),第一线激光相机(31)和第二线激光相机(32)与支架(2)之间均设置有平移调节单元(33);

2.根据权利要求1所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

3.根据权利要求2所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法,其特征在于,所述三组检测单元(3)进行点云数据对齐步骤具体为以下步骤:

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【技术特征摘要】

1.一种多线激光联合装置,包括输送架(1),其特征在于,所述输送架(1)的上方固定设置有多个支架(2)以及安装于支架(2)上的多组检测单元(3),任一组检测单元(3)包括两个上下相对安装的第一线激光相机(31)和第二线激光相机(32),第一线激光相机(31)和第二线激光相机(32)与支架(2)之间均设置有平移调节单元(33);

2.根据权利要求1所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法,其特征在于,包括以下步骤:

3.根据权利要求2所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法,其特征在于,所述三组检测单元(3)进行点云数据对齐步骤具体为以下步骤:

4.根据权利要求2所述的一种多线激光联合装置的微晶玻璃检测方法,其特征在于,所述标定三组检测单元(3)厚度补偿值步骤具体:

5.根据权利要求2所述的一种多线...

【专利技术属性】
技术研发人员:钱凯沈江华孙诗杰路家恒
申请(专利权)人:德济智能科技苏州有限公司
类型:发明
国别省市:

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