【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本申请涉及一种成像设备和一种多光谱成像的方法。
技术介绍
1、cmos图像传感器广泛用于检测可见光或近红外光谱范围内的辐射，最大检测波长至多为1100nm。然而，在这些传感器中用作光敏材料的硅对长波红外光谱范围内的辐射不敏感，使得这些传感器不能直接检测长波红外辐射以用于热成像。
2、要解决的目的是提供一种成像设备，其允许在可见光光谱范围和长波红外光谱范围两者内成像。此外，将指定一种允许进行多光谱成像的方法。
3、这些和其他目的尤其通过根据独立权利要求的成像设备和方法来获得。进一步的配置和便利是从属权利要求的主题。
4、指定了一种成像设备。
技术实现思路
1、根据成像设备的至少一个实施例，成像设备包括具有多个像素的检测器阵列。具体地，像素包括多个子像素类型。例如，子像素类型在其光谱灵敏度方面彼此不同。
2、例如，硅被用作检测器阵列的光敏材料。可以通过被布置在检测器阵列上的过滤器阵列来获得子像素类型的不同光谱灵敏度。
3、例如，三种不...
【技术保护点】
1.一种成像设备（1），包括：
2.根据权利要求1所述的成像设备，
3.根据权利要求1或2所述的成像设备，
4.根据前述权利要求中任一项所述的成像设备，
5.根据权利要求4所述的成像设备，
6.根据前述权利要求中任一项所述的成像设备，
7.根据前述权利要求中任一项所述的成像设备，
8.根据权利要求1至6中任一项所述的成像设备，
9.根据前述权利要求中任一项所述的成像设备，
10.根据前述权利要求中任一项所述的成像设备，
11.根据前述权利要求中任一项
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】
1.一种成像设备（1），包括：
2.根据权利要求1所述的成像设备，
3.根据权利要求1或2所述的成像设备，
4.根据前述权利要求中任一项所述的成像设备，
5.根据权利要求4所述的成像设备，
6.根据前述权利要求中任一项所述的成像设备，
7.根据前述权利要求中任一项所述的成像设备，
8.根据权利要求1至6中任一项所述的成像设备，
9.根据前述权利要求中任一项所述的成像设备，
10.根据前述权利要求中任一项所述的成像设备，
11.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：A·塔玛，K·特茨，S·约翰逊，
申请(专利权)人：艾迈斯传感器美国股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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