一种基于磁光克尔效应的教学级磁光克尔显微镜制造技术

本发明专利技术关于一种基于磁光克尔效应的教学级磁光克尔显微镜，涉及显微镜技术领域。包括光源、第一凸透镜、起偏器、半透半反镜、物镜、第二凸透镜、检偏器和CMOS相机；光源发出的光经过第一凸透镜形成平行光线，再通过起偏器转化为线偏振光；光线经过半反半透镜反射，并通过物镜聚焦到样品表面上；光线经过样品反射后，再次通过物镜成为平行光线，射回半透半反镜；最后，经过第二凸透镜的聚焦后，光线通过检偏器并最终聚焦到相机上。本发明专利技术实现了人眼通过光学显微镜可以直接观察到磁畴结构，大幅提高了观测效率，并且体积得到大幅减小，保证大学生可以在物理实验室动手操作；在保证精度满足教学需要的同时，成本也大幅缩减。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显微镜，具体为一种基于磁光克尔效应的教学级磁光克尔显微镜。

技术介绍

1、磁性材料作为一种重要的信息功能材料，广泛应用于现代生活中，推动着各个领域的进步和创新。特别是在后摩尔时代的新型存储芯片中，磁性材料扮演着重要的角色。磁畴是磁性材料的磁学性能的本质物质结构，是存储信息的基本单元之一。通过对磁畴的测量表征，可以更好地理解磁性材料的性质和行为，为磁性材料的应用提供基础研究支持。

2、然而，当前观察磁畴需要使用一些先进的实验技术和高精尖的设备，如科研级的磁光克尔显微镜。其体积庞大、价格昂贵的局限性严重影响了磁光克尔技术在实验教学、生产制造等领域的应用落地。

3、因此，如何提供一种基于磁光克尔效应的教学级磁光克尔显微镜，成为了本领域技术人员急需解决的技术问题。

技术实现思路

1、本专利技术解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种基于磁光克尔效应的教学级磁光克尔显微镜，实现了人眼通过光学显微镜可以直接观察到磁畴结构，大幅提高了观测效率，并且体积得到大幅减小，保证大学生可以在本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于磁光克尔效应的教学级磁光克尔显微镜，其特征在于，包括：光源、第一凸透镜、起偏器、半透半反镜、物镜、第二凸透镜、检偏器和CMOS相机；所述光源发出的光经过第一凸透镜形成平行光线，再通过起偏器转化为线偏振光；接着，光线经过半反半透镜反射，并通过物镜聚焦到样品表面上；光线经过样品反射后，再次通过物镜成为平行光线，射回半透半反镜；最后，经过第二凸透镜的聚焦后，光线通过检偏器并最终聚焦到相机上。

2.如权利要求1所述的一种基于磁光克尔效应的教学级磁光克尔显微镜，其特征在于，所述光源与第一凸透镜之间设置有光阑，光通过光阑限制出射角度。

3.如权利要求2所述的一种基...

【技术特征摘要】

1.一种基于磁光克尔效应的教学级磁光克尔显微镜，其特征在于，包括：光源、第一凸透镜、起偏器、半透半反镜、物镜、第二凸透镜、检偏器和cmos相机；所述光源发出的光经过第一凸透镜形成平行光线，再通过起偏器转化为线偏振光；接着，光线经过半反半透镜反射，并通过物镜聚焦到样品表面上；光线经过样品反射后，再次通过物镜成为平行光线，射回半透半反镜；最后，经过第二凸透镜的聚焦后，光线通过检偏器并最终聚焦到相机上。

2.如权利要求1所述的一种基于磁光克尔效应的教学级磁光克尔显微镜，其特征在于，所述光源与第一凸透镜之间设置有光阑，光通过光阑限制出射角度。

3.如权利要求2所述的一种基于磁光克尔效应的教...

【专利技术属性】
技术研发人员：雷娜，刘宝佳，蓝豪爽，王博宇，朱宇航，邵熠桢，
申请(专利权)人：北京航空航天大学，
类型：发明
国别省市：