System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 一种输入输出电路、测试控制装置以及系统制造方法及图纸_技高网

一种输入输出电路、测试控制装置以及系统制造方法及图纸

技术编号:43586276 阅读:12 留言:0更新日期:2024-12-06 17:49
本发明专利技术一种输入输出电路、测试控制装置以及系统,输入输出电路包括输入电路、输出电路和控制器;在输入电路中,连接器X1的第一连接端与第一电源连接,连接器X1的第三连接端接地;连接器X1的第二连接端通过电阻R23与晶体管Q2的第一端连接,第二电源依次通过晶体管Q2和电阻R25与晶体管Q4的第一端连接;晶体管Q4的第一端还通过电阻R27接地,晶体管Q4的第二端接地,晶体管Q4的第三端用于输出信号;在输出电路中,控制器的输出端通过电阻R4与MOS管Q3的第一端连接,MOS管Q3的第二端与负载元件Y1的第一连接端连接,MOS管Q3的第三端接地;控制器分别与输入电路和输出电路连接。本发明专利技术解决了输入电路和输出电路无法在小型化的检测设备上进行有效的布局。

【技术实现步骤摘要】

本申请涉及自动化控制,尤其涉及一种输入输出电路、测试控制装置以及系统


技术介绍

1、自动化控制是一种应用与现代工业、农业、制造业等生产领域中机械电气一体自动化集成控制技术和理论。传统的是以plc为代表的标准控制器器件,大量应用与工厂自动化线体,然后随着电子信息技术的发展,传统控制使用标准的plc来实现输入的检测和输出的控制,其内部使用的是标准的ic来作为输入检测和输出驱动,这种设计成本相对较高,而且在消费类电子产品测试中,在采集如按钮、光栅的输入信号以及对如继电器,电磁阀输出控制信号时,使用标准的ic增加pcb的设计尺寸,无法在小型化的检测设备上进行有效的布局。


技术实现思路

1、有鉴于此,本申请实施例致力于提供一种输入输出电路、测试控制装置以及系统,用于解决设计成本相对较高,同时增加pcb的设计尺寸,无法在小型化的检测设备上进行有效的布局的问题。

2、根据本专利技术的第一方面,本专利技术提供了一种输入输出电路,包括输入电路、输出电路和控制器;

3、在所述输入电路中,连接器x1的第一连接端与第一电源连接,连接器x1的第三连接端接地;

4、所述连接器x1的第二连接端通过电阻r23与晶体管q2的第一端连接,所述晶体管q2的第二端通过电阻r21与所述连接器x1的第二连接端连接,第二电源依次通过所述晶体管q2和电阻r25与晶体管q4的第一端连接;所述晶体管q4的第一端还通过电阻r27接地,所述晶体管q4的第二端接地,所述晶体管q4的第三端用于输出信号;

5、在所述输出电路中,控制器的输出端通过电阻r4与mos管q3的第一端连接,所述mos管q3的第二端与负载元件y1的第一连接端连接,所述mos管q3的第三端接地;

6、所述控制器分别与所述输入电路和所述输出电路连接,用于接收所述输入电路的输出信号以及输出控制信号至所述输出电路。

7、优选地,在所述输入电路中还包括保护电路;

8、在所述保护电路中,第三电源依次通过电阻r11、发光二极管led1与所述晶体管q4的第三端连接,第三电源还分别通过电阻r18、二极管ds1与晶体管q4的第三端连接;晶体管q4的第三端还通过二极管ds2接地。

9、优选地,在所述输入电路中,当待被控元件的输入信号输入至所述连接器x1时,所述连接器x1的第二连接端向所述晶体管q2的第一端发送低电平信号,所述晶体管q2和所述晶体管q4导通,所述晶体管q4的第三端输出至所述控制器的输入端为低电平信号。

10、优选地,在所述输入电路中,当待被控元件的控制信号未输入至所述连接器x1时,所述连接器x1第二连接端向所述晶体管q2的第一端发送高电平信号,所述晶体管q2和所述晶体管q4均不导通,所述晶体管q4的第三端输出至所述控制器的输入端为高电平信号。

11、优选地,在所述输出电路中还包括负载检测电路;

12、在所述负载提示电路中,第四电源依次通过电阻r34和发光二极管led2与所述mos管q3的第二端连接,所述第四电源还通过二极管ds3与所述mos管q3的第二端连接,所述第四电源与所述所述负载元件y1第二连接端连接。

13、优选地,在所述输出电路中,当控制器的输出端输出高电平信号时,所述mos管q3导通,所述电压信号输入至所述负载元件y1,用于所述负载元件y1工作。

14、优选地,在所述输出电路中,当控制器的输出端输出低电平信号时,所述mos管q3不导通,所述负载元件y1停止工作。

15、优选地,所述晶体管q2采用pnp三极管;

16、所述mos管q3采用nmos管;

17、所述晶体管q4采用npn三极管。

18、根据本专利技术的第二方面,还提供了一种测试控制装置,包括输入模块、输出模块以及所述的输入输出电路:

19、输入模块,所述输入模块包括多个输入电路,所述输入电路用于采集待被控元件的输入信号,并将所述输入信号传送至所述控制器;

20、输出模块,所述输出模块包括多个输出电路,用于输出电压信号对设备进行控制;

21、i2c电路,与所述控制器连接,用于扩展所述输入电路和所述输出电路。

22、根据本专利技术的第三方面,还提供了一种测试控制系统,包括串口电路、电源电路以及所述的测试控制装置;

23、所述电源电路与所述控制器连接,用于提供电源;

24、所述串口电路与所述控制器连接,用于对设备进行控制。

25、根据本专利技术的第一方面,通过设置多个晶体管和电阻,优化了输入电路的设计,确保了信号的可靠传输和处理。连接器x1能够在高地电平状态下有效控制晶体管的导通与否,提供了稳定的电路控制和信号传输功能。在输出电路中,通过控制器mcu与mos管的连接设计,实现了对负载元件的有效控制。mos管q3的引入提高了控制电路的可靠性,确保了负载元件y1能够根据控制器的输出信号进行相应操作,进一步地,通过输入电路与输出电路使用电阻,二极管,三极管和mos管这些被动元件替换ic电路,减小pcb的设计尺寸,可以在小型化的检测设备上进行有效的布局。

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【技术保护点】

1.一种输入输出电路,其特征在于,包括输入电路、输出电路和控制器;

2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,在所述输入电路中还包括保护电路;

3.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,在所述输入电路中,当待被控元件的输入信号输入至所述连接器X1时,所述连接器X1的第二连接端向所述晶体管Q2的第一端发送低电平信号,所述晶体管Q2和所述晶体管Q4导通,所述晶体管Q4的第三端输出至所述控制器的输入端为低电平信号。

4.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,在所述输入电路中,当待被控元件的控制信号未输入至所述连接器X1时,所述连接器X1第二连接端向所述晶体管Q2的第一端发送高电平信号,所述晶体管Q2和所述晶体管Q4均不导通,所述晶体管Q4的第三端输出至所述控制器的输入端为高电平信号。

5.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,在所述输出电路中还包括负载检测电路;

6.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,在所述输出电路中,当控制器的输出端输出高电平信号时,所述MOS管Q3导通,所述电压信号输入至所述负载元件Y1,用于所述负载元件Y1工作。

7.根据权利要求5所述的电路,其特征在于,在所述输出电路中,当控制器的输出端输出低电平信号时,所述MOS管Q3不导通,所述负载元件Y1停止工作。

8.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,所述晶体管Q2采用PNP三极管;

9.一种测试控制装置,其特征在于,包括输入模块、输出模块以及如权利要求1至8所述的输入输出电路:

10.一种测试控制系统,其特征在于,包括串口电路、电源电路以及如权利要求9所述的测试控制装置;

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【技术特征摘要】

1.一种输入输出电路,其特征在于,包括输入电路、输出电路和控制器;

2.根据权利要求1所述的电路,其特征在于,在所述输入电路中还包括保护电路;

3.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,在所述输入电路中,当待被控元件的输入信号输入至所述连接器x1时,所述连接器x1的第二连接端向所述晶体管q2的第一端发送低电平信号,所述晶体管q2和所述晶体管q4导通,所述晶体管q4的第三端输出至所述控制器的输入端为低电平信号。

4.根据权利要求2所述的电路,其特征在于,在所述输入电路中,当待被控元件的控制信号未输入至所述连接器x1时,所述连接器x1第二连接端向所述晶体管q2的第一端发送高电平信号,所述晶体管q2和所述晶体管q4均不导通,所述晶体管q4的第三端输出至所述控制器的输入端为高电平信号。

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【专利技术属性】
技术研发人员:曾德能刘尊严董斌李向丁
申请(专利权)人:昆山迈致治具科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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