用于同轴TKD原位拉伸表征测试的样品实验台制造技术

本技术提供了一种用于同轴TKD原位拉伸表征测试的样品实验台，涉及微观表征观测技术领域。该用于同轴TKD原位拉伸表征测试的样品实验台包括基台、拉伸台以及拉伸基片，拉伸基片上开设有样品孔，样品孔用于固定放置实验样品，拉伸基片的两端能够分别与基台和拉伸台固定。基于本技术的技术方案，该用于同轴TKD原位拉伸表征测试的样品实验台，能够在对样品进行原位拉伸时实时观测样品的微观结构变化，从而将材料力学性能参数与微观结构信息建立直接联系。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及微观表征观测，尤其涉及一种用于同轴tkd原位拉伸表征测试的样品实验台。

技术介绍

1、材料力学性能测试方法包括拉伸、压缩、剪切、弯曲等，其中应用最广泛的是单轴拉伸测试。传统的单轴拉伸实验属于非原位测试，一般先在实验中获取拉伸载荷-位移曲线，再计算应力-应变曲线，进而分析得出弹性模量、屈服强度、抗拉强度以及断后延伸率等力学性能参数。该法不能对测试过程中的材料微观变形过程进行观察，尤其缺乏特定受力阶段微观组织结构和晶体织构观测的实时性，无法将材料力学性能参数与微观结构信息建立直接联系。只有开展显微成像技术测量辅助下的原位力学测试才能解决上述问题。透射式电子背散射技术(tkd)是一种利用普通ebsd探头进行的晶体学实验。

2、因此，本申请提供一种用于同轴tkd原位拉伸表征测试的样品实验台，能够在对样品进行原位拉伸时实时观测样品的微观结构变化。从而将材料力学性能参数与微观结构信息建立直接联系。

技术实现思路

1、针对上述现有技术中的问题，本申请提出了一种用于同轴tkd原位拉伸表征测试的样品实验台本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种用于同轴TKD原位拉伸表征测试的样品实验台，其特征在于，所述用于同轴TKD原位拉伸表征测试的样品实验台包括基台、拉伸台以及拉伸基片，所述拉伸基片上开设有样品孔，所述样品孔用于固定放置实验样品，所述拉伸基片的两端能够分别与所述基台和所述拉伸台固定。

2.根据权利要求1所述的用于同轴TKD原位拉伸表征测试的样品实验台，其特征在于，所述基台上设有导向滑轨，所述拉伸台上开设有导向滑槽，所述导向滑轨能够与所述导向滑槽导向滑动配合。

3.根据权利要求2所述的用于同轴TKD原位拉伸表征测试的样品实验台，其特征在于，所述拉伸台为U形架，所述U形架位于拐角处内侧设有承载板，...

【技术特征摘要】

1.一种用于同轴tkd原位拉伸表征测试的样品实验台，其特征在于，所述用于同轴tkd原位拉伸表征测试的样品实验台包括基台、拉伸台以及拉伸基片，所述拉伸基片上开设有样品孔，所述样品孔用于固定放置实验样品，所述拉伸基片的两端能够分别与所述基台和所述拉伸台固定。

2.根据权利要求1所述的用于同轴tkd原位拉伸表征测试的样品实验台，其特征在于，所述基台上设有导向滑轨，所述拉伸台上开设有导向滑槽，所述导向滑轨能够与所述导向滑槽导向滑动配合。...

【专利技术属性】
技术研发人员：汤国高，喻旺珍，刘玉敬，赵玮，
申请(专利权)人：深圳务实科学研究有限责任公司，
类型：新型
国别省市：