【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及液晶屏检测，特别是一种液晶屏坏点检测方法、检测装置及存储介质。
技术介绍
1、随着智能手机的普及和用户对屏幕显示质量要求的不断提高，手机液晶屏的坏点问题日益受到重视。为了提升手机液晶屏坏点检测的效率和准确性，近年来，基于图像处理技术的坏点检测方法逐渐发展起来，通过利用摄像头拍摄液晶屏的图像，并通过图像处理算法识别出坏点位置，从而实现自动化的坏点检测。然而，现有的图像处理技术的检测方法仍存在一定的局限性：首先，由于液晶屏的复杂结构和光学特性，图像采集和处理过程中容易受到光照不均匀、反射光、噪声等因素的影响，导致检测结果出现误判。其次，一些细微的坏点，例如颜色偏色、漏光等，难以通过现有图像处理算法准确识别，需要更复杂的算法和更精密的设备才能检测。最后，现有的方法和产线的联动性较低、一体化程度较低，无法根据检测结果对生产线进行智能反馈调节，导致产品不良率居高不下。因此，克服这些技术障碍，开发更精准、更智能、更自动化的坏点检测方法，是手机液晶屏质量检测技术发展的重要方向。
技术实现思路
<...【技术保护点】
1.一种液晶屏坏点检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种液晶屏坏点检测方法，其特征在于，根据所述屏幕特性图像构建目标液晶屏的实际梯度值矩阵，具体为：
3.根据权利要求1所述的一种液晶屏坏点检测方法，其特征在于，根据目标液晶屏的实际梯度值矩阵与标准梯度值矩阵对目标液晶屏进行坏点位置分析，得到屏幕特性图像中的一个或多个坏点位置区域，具体为：
4.根据权利要求1所述的一种液晶屏坏点检测方法，其特征在于，基于坏点特征知识树图概网络对各子特性图像进行特征分析，得到目标液晶屏中所有坏点位置区域的坏点名称与坏点诱因，具
...
【技术特征摘要】
1.一种液晶屏坏点检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
2.根据权利要求1所述的一种液晶屏坏点检测方法，其特征在于，根据所述屏幕特性图像构建目标液晶屏的实际梯度值矩阵，具体为：
3.根据权利要求1所述的一种液晶屏坏点检测方法，其特征在于，根据目标液晶屏的实际梯度值矩阵与标准梯度值矩阵对目标液晶屏进行坏点位置分析，得到屏幕特性图像中的一个或多个坏点位置区域，具体为：
4.根据权利要求1所述的一种液晶屏坏点检测方法，其特征在于，基于坏点特征知识树图概网络对各子特性图像进行特征分析，得到目标液晶屏中所有坏点位置区域的坏点名称与坏点诱因，具体为：
5.根据...
【专利技术属性】
技术研发人员：艾冬，
申请(专利权)人：深圳市宏盛通光电有限公司，
类型：发明
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。