【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及ct设备，具体而言，涉及一种用于ct探测器晶体模组与后准直器的对位装置及对位方法。
技术介绍
1、随着ct向更宽视野的发展，探测器排数也逐渐增加，探测器排数增加是通过多个探测器模块在z向的拼接来实现，随着ct排数的增加，同时对后准直器的设计也提出更高的要求，除了对x向的抗散射栅格设计，z向也增加了抗散射线的遮挡需求，后准直器的传统1d结构栅格逐步被2d结构取代，2d结构中通常每个栅格对准于探测器一个像素。
2、对于128排、256排等高排数探测器，后准直器的加工和组装成为技术难点，将每个独立的后准直器通过贴合粘接的方式组装到每个探测器晶体模块上再进行拼接是目前较优的一种方案。由于ct图像的重建依赖特定的光路几何，后准直器和探测器晶体的对位精度对ct的成像质量有着重要影响，因此，提高探测器后准直器和探测器晶体模块的组装定位精度具有重要意义
3、现有技术中，借助光学识别装置通过中心对正法进行探测器晶体模块和后准直器的贴合，贴装过程中会出现围绕中心扭转的情况，难以保证后准直器与ct探测器晶体角度和位置关系...
【技术保护点】
1.一种用于CT探测器晶体模组与后准直器的对位装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的对位装置，其特征在于，所述第一对位结构包括底座、第一L型对位块和第二L型对位块；
3.根据权利要求2所述的对位装置，其特征在于，所述锁止组件包括：
4.根据权利要求2所述的对位装置，其特征在于，所述第一调节固定结构包括至少两个第一精密微分头和至少两个第一调节螺钉，两个所述第一精密微分头分别设于所述第一L型对位块的第一侧和第二侧；
5.根据权利要求1所述的对位装置，其特征在于，所述第二对位结构包括安装块参考底板，所述安装块参考底...
【技术特征摘要】
1.一种用于ct探测器晶体模组与后准直器的对位装置，其特征在于，包括：
2.根据权利要求1所述的对位装置，其特征在于，所述第一对位结构包括底座、第一l型对位块和第二l型对位块；
3.根据权利要求2所述的对位装置，其特征在于，所述锁止组件包括：
4.根据权利要求2所述的对位装置，其特征在于，所述第一调节固定结构包括至少两个第一精密微分头和至少两个第一调节螺钉，两个所述第一精密微分头分别设于所述第一l型对位块的第一侧和第二侧；
5.根据权利要求1所述的对位装置，其特征在于，所述第二对位结构包括安装块参考底板，所述安装块参考底板的下表面设置有所述第二水平基准面，所述安装块参考底板上设置有固定件，所述固定件用于固定探测器晶体安装块。
【专利技术属性】
技术研发人员：王伟，
申请(专利权)人：赛诺威盛科技北京股份有限公司，
类型：发明
国别省市：
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