【技术实现步骤摘要】
本申请属于ddr压测，特别涉及一种ddr压测装置及ddr压测方法。
技术介绍
1、ddr(doubledata rate sdram，双倍速率同步动态随机存储器)压测是测试soc(system on chip，片上系统)访问ddr的链路可靠性的重要手段，即soc构造测试码型，并向ddr发起大量的读、写访问，收集和分析误码率，最终得到链路质量信息的过程。ddr压测一般要求压测装置具有以下特点：1)能够产生高带宽的读、写数据流以保证压测的效率；2)压测范围能覆盖ddr颗粒的所有存储空间；3)测试pattern(也称之为测试码型)要具有多样性；4)误码率统计要满足准确性和实时性。
技术实现思路
1、本申请的目的在于提供一种ddr压测装置及ddr压测方法，旨在解决相关技术中存在的ddr压测效率低、覆盖存储空间范围有限、误码率检测复杂、无法自动校正等问题。
2、根据本申请的第一方面，提供了一种ddr压测装置，包括：ddr控制器和ddr phy；其中，所述ddr控制器中内嵌访问生成引擎单元...
【技术保护点】
1.一种DDR压测装置，其特征在于，包括：DDR控制器和DDRPHY；其中，所述DDR控制器中内嵌访问生成引擎单元、测试码型产生逻辑单元和数据对比逻辑单元；所述DDR PHY为所述DDR控制器和DDR存储阵列之间的接口；
2.根据权利要求1所述的DDR压测装置，其特征在于，所述DDR压测装置还包括：参数校正逻辑单元；其中，
3.根据权利要求1所述的DDR压测装置，其特征在于，所述访问生成引擎单元具有如下功能中的一种或多种的组合：
4.根据权利要求1所述的DDR压测装置，其特征在于，所述测试码型产生逻辑单元被配置为实现如下功能中的一种
【技术特征摘要】
1.一种ddr压测装置，其特征在于，包括：ddr控制器和ddrphy；其中，所述ddr控制器中内嵌访问生成引擎单元、测试码型产生逻辑单元和数据对比逻辑单元；所述ddr phy为所述ddr控制器和ddr存储阵列之间的接口；
2.根据权利要求1所述的ddr压测装置，其特征在于，所述ddr压测装置还包括：参数校正逻辑单元；其中，
3.根据权利要求1所述的ddr压测装置，其特征在于，所述访问生成引擎单元具有如下功能中的一种或多种的组合：
4.根据权利要求1所述的ddr压测装置，其特征在于，所述测试码型产生逻辑单元被配置为实现如下功能中的一种或多种的组合：
5.根据权利要求1所述的ddr压测装置，其特征在于，所述数据比对逻辑单元被配置为实现如下功能中的一种或多种的组合：
6.根据权利要求2所述的ddr压测装置，其特征在于，所述参数校正逻辑单元通过调整所述数据采样时钟延时，确定误码率为零的最小延时和最大延时，并基于所述最小延时和最大延时的平均值确定中心延时；之后以固定的步进向所述中心延时的正负两个方向各取多个候选延时，针对每个所述候选延时，调整所述数据采样判别电压值，得到每个候选延时对应的误码率为零的最大电...
【专利技术属性】
技术研发人员：王茂森，赵业，陈恒，杨程，杨丽，
申请(专利权)人：无锡众星微系统技术有限公司，
类型：发明
国别省市：
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