一种适用于SiC模块寿命评估的结温数据点计算方法技术

技术编号:43550913 阅读:29 留言:0更新日期:2024-12-03 12:33
本发明专利技术公开了一种适用于SiC模块寿命评估的结温数据点计算方法,包括以下步骤:步骤S1:计算平均损耗;步骤S2:计算平均结温;步骤S3:计算基频结温波动;步骤S4:计算用于雨流统计的结温数据点。本发明专利技术公开的一种适用于SiC模块寿命评估的结温数据点计算方法,通过2脉冲近似法以及各单工况点的结温迭代计算,可以得到包含基频结温波动的结温数据点,并且所有单工况点的结温都动态收敛,本发明专利技术的结温数据点计算方法可通过计算机程序轻松实现。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于sic模块寿命评估,具体涉及一种适用于sic模块寿命评估的结温数据点计算方法。


技术介绍

1、在现有汽车电驱动系统中,sic功率模块得到广泛应用。当前sic模块的离线寿命计算沿用了最常用的igbt模块的离线寿命计算方法,即首先根据给定的路谱工况计算模块的结温tj,然后用雨流法统计不同的结温变化△tj以及△tj对应的频次nf,接着将各个的△tj与其对应的nf带入寿命曲线中,可以得到各个△tj对模块造成的损伤w△tj,最后根据palmgren-miner线性疲劳累积损伤理论,将各个△tj对模块造成的损伤w△tj相加,可以得到总的损伤wtotal,则模块的寿命为1/wtotal。

2、通常路谱中单个循环的时间为小时级别,单个循环中的单个工况点的持续时间为秒级别,而模块的开关周期为百微秒级别,且路谱中低转速(即低基频)出现的次数相对较少。由于路谱单个循环的时间较长,而模块的开关周期较短,若按每个开关周期计算结温,则计算量非常大。因此,为了简化计算,传统计算方法在计算模块结温时,仅计算各个单工况点的结温。考虑到路谱中低基频的工况点较少,传统本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种适用于SiC模块寿命评估的结温数据点计算方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种适用于SiC模块寿命评估的结温数据点计算方法,其特征在于,步骤S3中的ΔTjswingk和对应的Nfk数据直接代入寿命曲线,计算出ΔTjswingk对模块造成的损伤;步骤S4中的TjCalk则用于雨流统计;设雨流统计后得到的结温变化和对应的频次分别为ΔTjCalL和NfL,则将ΔTjCalL和对应的NfL代入寿命曲线,计算出ΔTjCalL对模块造成的损伤,将ΔTjswingk造成的损伤和ΔTjCalL造成的损伤相加,得到总的损伤WTotal,则模块的寿命为1/WTot...

【技术特征摘要】

1.一种适用于sic模块寿命评估的结温数据点计算方法,其特征在于,包括以下步骤:

2.根据权利要求1所述的一种适用于sic模块寿命评估的结温数据点计算方法,其特征在于,步骤s3中的δtjswingk和对应的nfk数据直接代入寿命曲线,计算出δtjswingk对模块造成的损伤;步骤s4中的tjcalk则用于雨流统计;设雨流统计后得到的结温变化和对应的频次分别为δtjcall和nfl,则将δtjcall和对应的nfl代入寿命曲线,计算出δtjcall对模块造成的损伤,将δtjswingk造成的损伤和δtjcall造成的损伤相加,得到总的损伤wtota...

【专利技术属性】
技术研发人员:骆霁嵘石绍磊吴玉飞薛平
申请(专利权)人:浙江伊控动力系统有限公司
类型:发明
国别省市:

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