微波毫米波等效源反射系数的测量系统及方法技术方案

本发明专利技术公开了一种微波毫米波等效源反射系数的测量系统及方法，其系统仅包括矢量网络分析仪和两种具有不同反射特性的单端口器件，进而通过将被测三端口器件两个输出端口连接到矢量网络分析仪的两个测试端口，根据三端口器件的散射参数方程，得到等效源反射系数的一般表达式；通过等效源反射系数的一般表达式，在三端口器件的输入端口上分别连接两种具有不同反射特性的单端口器件，即可分别得到具有反射特性A、B的等效源反射系数第一和第二表达式；由此通过联立等效源反射系数的第一表达式和等效源反射系数的第二表达式，即得到等效源反射系数最终表达式。本发明专利技术所需设备较少，操作计算简单，不确定度评定可简化，有利于解决功率测量中失配及测量不确定度评定问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及微波/毫米波测量，具体提出了一种微波毫米波等效源反射系数的测量系统及方法。

技术介绍

1、目前，随着集成电路持续创新与进步，器件逐渐朝向小型化，微型化演变，工作频段也朝着更高的频段不断扩展，其中微波毫米波频段相关制造与应用最为广泛。在功率测量过程中，失配是决定微波毫米波功率测量不确定度大小的主要部分，减小并准确评估失配影响是降低功率测量不确定度的必然要求。常见的方法为在信号源与被测器件之间引入一个三端口器件(一般为定向耦合器或二电阻功分器，三电阻功分器除外)，通过构建稳幅信号源系统或者采用功率比值的方式来实现减小信号源端对应的反射系数，从而减小失配。其中，采用功率比值法推导出的失配项中对应信号源反射系数的因子与由稳幅信号源系统推导出的失配项中信号源反射系数的表达式相同，因此被称为等效源反射系数，记作γge。

2、目前，一些通用的等效源反射系数的测量方法可以用于实现获取等效源反射系数，可以分为以下四类方式：

3、(1)基于获取器件散射参数法：该方法是目前最为主流的等效源反射系数测量方式。通过三端口器件的散射参数方程组直接本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.微波毫米波等效源反射系数的测量方法，其特征在于：具体步骤为：

2.如权利要求1所述微波毫米波等效源反射系数的测量方法，其特征在于：矢量网络分析仪采用无需具备外置的内部接收机接口的二端口矢量网络分析仪或多端口矢量网络分析仪。

3.如权利要求1所述微波毫米波等效源反射系数的测量方法，其特征在于：单端口器件无需已知其反射系数的准确值，选用两种具有不同反射特性的即可。

4.如权利要求3所述微波毫米波等效源反射系数的测量方法，其特征在于：单端口器件采用反射特性相差较大的短路器与开路器。

5.如权利要求1所述微波毫米波等效源反射系数的测量方法，其特...

【技术特征摘要】

1.微波毫米波等效源反射系数的测量方法，其特征在于：具体步骤为：

2.如权利要求1所述微波毫米波等效源反射系数的测量方法，其特征在于：矢量网络分析仪采用无需具备外置的内部接收机接口的二端口矢量网络分析仪或多端口矢量网络分析仪。

3.如权利要求1所述微波毫米波等效源反射系数的测量方法，其特征在于：单端口器件无需已知其反射系数的准确值，选用两种具有不同反射特性的即可。

4.如权利要求3所述微波毫米波等效源反射系数...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈硕，崔孝海，张一航，袁文泽，李勇，
申请(专利权)人：中国计量科学研究院，
类型：发明
国别省市：