【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于辐射监测，具体涉及一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室及使用方法。
技术介绍
1、β射线是一种电子束，属于弱贯穿辐射，其穿透能力强于α射线，次于x、γ射线。β射线广泛存在于核工业、放射医学、放射性同位素工业等各个领域，其辐射监测和防护的普遍性和重要性仅次于x、γ射线，尤其是β射线对人体皮肤和眼晶体等器官的照射需要重点关注。目前普遍使用外推电离室作为β射线吸收剂量标准，其涉及的β能量范围为66kev到3.6mev。外推电离室是测量β吸收剂量率的最基本的绝对测量装置，是根据bragg-gray空腔电离理论设计的。
2、外推电离室是一种高压极和收集极之间距离可以改变的平板型电离室，当电离室的两电极逐渐接近而极间距离逐渐缩短，其灵敏体积和电离电流也将减小。外推电离室需要有一电极平移系统，由特制的螺旋测微计组成，平移电极的同时需设法消除对极间平行度的影响。尽管外推电离室是测量β平面源吸收剂量的标准装置，但它在应用过程存在一些问题。首先外推电离室构造精细、复杂，测量过程中需要逐步手动调整电离室的极间距，利用测得的多个数据...
【技术保护点】
1.一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于：
3.如权利要求1所述的一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于：
4.如权利要求1所述的一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于：
5.如权利要求1所述的一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于：
6.如权利要求1所述的一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于：
7.如权利要求1所述的一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离
【技术特征摘要】
1.一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于，包括：
2.如权利要求1所述的一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于：
3.如权利要求1所述的一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于：
4.如权利要求1所述的一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于：
5.如权利要求1所述的一种测量β平面源表面吸收剂量率的电离室，其特征在于：
6.如权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员：李凯伦，韦应靖，王弘昱，刘新昊，张教宇，曹勤剑，张婷婷，李胤，陈双强，李志刚，崔伟，李英帼，
申请(专利权)人：中国辐射防护研究院，
类型：发明
国别省市：
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