基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法与装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法与装置，该方法为：步骤一，量子光源发出的纠缠光或压缩光经过准直、光隔离以及偏振态转换后，经分光后分别入射到参考腔与测量腔，其中，参考腔和测量腔均由并列布置的两个SPDC晶体组成，且参考腔与测量腔均放置于真空气室内部，真空气室内充入待测气体；参考腔的两个SPDC晶体之间的距离和测量腔的两个SPDC晶体之间的最近距离不同；步骤二，从参考腔与测量腔出射的激光分别经过滤光，滤除泵浦光后进行聚焦，再分别入射到分光镜，经过分光镜的激光分为透射光和反射光，两束透射光由CCD相机进行探测接收，分析其干涉图样获得待测气体浓度值；两束反射光由频率计探测接收，通过分析真空气室充入待测气体前后的双腔拍频获得待测气体折射率数值。本发明专利技术能够实现气体折射率和气体浓度的同时测量，并解决对气体折射率与气体浓度高灵敏度检测的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于激光光谱测量，具体涉及一种基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法与装置。

技术介绍

1、气体折射率与气体浓度的测量在许多领域都具有重要的应用价值。例如，在环境监测领域，气体浓度的检测可以帮助我们更好地了解大气环境状况。在精密制造现场，气体折射率的测量可以用于补偿位移等参数的测量精度，提高测量准确性。

2、然而，传统的气体检测方法往往只能单独测量气体折射率或气体浓度，且精度和灵敏度有限。气体折射率和气体浓度检测受到多种因素影响，包括温度、压力、气体成分及其浓度等。传统的气体检测技术往往难以在所有条件下都保持高准确度的折射率测量，尤其是在复杂多变的环境中，同时环境也会影响气体分子的密度和分布，进而影响检测信号的强度和稳定性。高精度的气体折射率或气体浓度测量设备结构复杂，操作难度大，并且传统方法易受环境干扰，气体中的杂质、水分等因素都可能对测量产生干扰，影响测量结果的准确性。

技术实现思路

1、有鉴于此，本专利技术提供了一种基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法与装置，能够实现本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法，其特征在于，该方法的具体步骤为：

2.如权利要求1所述的一种基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法，其特征在于，在步骤一中，参考腔和测量腔均由两个SPDC晶体组成，量子光源发出的一束纠缠光或压缩光入射到第一个SPDC晶体上时，第一个SPDC晶体将一束纠缠光或压缩光转换为下转换光子，下转换光子包括一束信号光与一束闲频光；进而一束信号光与一束闲频光将被注入到第二个SPDC晶体中，转换为两束信号光与两束闲频光，来自两个SPDC晶体的下转换光子产生干涉并获得干涉图样；

3.如权利要求1或2所述的一种基于量子光源的...

【技术特征摘要】

1.一种基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法，其特征在于，该方法的具体步骤为：

2.如权利要求1所述的一种基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法，其特征在于，在步骤一中，参考腔和测量腔均由两个spdc晶体组成，量子光源发出的一束纠缠光或压缩光入射到第一个spdc晶体上时，第一个spdc晶体将一束纠缠光或压缩光转换为下转换光子，下转换光子包括一束信号光与一束闲频光；进而一束信号光与一束闲频光将被注入到第二个spdc晶体中，转换为两束信号光与两束闲频光，来自两个spdc晶体的下转换光子产生干涉并获得干涉图样；

3.如权利要求1或2所述的一种基于量子光源的气体折射率与浓度同时测量的方法，其特征在于，在步骤二中，根据真空气室充入待测气体前后的双腔拍频获得待测气体...

【专利技术属性】
技术研发人员：张永超，缪寅宵，张铁犁，王宗军，高小强，张志涛，刘浩，葛萌，徐永垚，
申请(专利权)人：北京航天计量测试技术研究所，
类型：发明
国别省市：