光测距装置制造方法及图纸

技术编号:43494443 阅读:35 留言:0更新日期:2024-11-29 17:02
提供一种能够提高物体的检测性能的光测距装置。在光测距装置中,具备:作为板状部件的受光模块(31),配置有响应具有规定波长的光即感测光的多个检测器(311);照射所述感测光的多个发光元件(411);以及光阑模块(41),其为设有多个点状的开口部的板状部件,且配置于所述受光模块的上侧,该点状的开口部用于使由所述目标反射的所述感测光即反射光朝向所述检测器通过,多个所述发光元件在所述光阑模块中设于未设有所述开口部的部分。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

本公开涉及基于从照射光到接收来自物体的反射光为止的时间检测到物体的距离的光测距装置


技术介绍

1、在专利文献1中,作为光测距装置的构成,公开了如下构成:在以矩阵状具备照射感测光的发光元件的照射单元的前侧,配置有以矩阵状具备响应于由物体反射的感测光的检测器的受光模块。这里的光测距装置指的是利用从照射感测光到该感测光被物体反射而返回为止的时间检测该物体的位置的装置。另外,在专利文献2中记载了用于将激光扩散输出所希望的角度范围的光学构成。

2、现有技术文献

3、专利文献

4、专利文献1:美国专利第11187789号说明书

5、专利文献2:日本特表20201532141号公报


技术实现思路

1、在专利文献1中公开的构成中,为了确保发光元件发出的光的光路,需要将检测器彼此隔开某种程度的间隔来配置检测器,空间分辨率可能降低。

2、本公开基于上述的关注而完成,其目的之一在于提供能够提高物体的检测性能的光测距装置。

3、此处公开的第一光测距装置是一种使本文档来自技高网...

【技术保护点】

1.一种光测距装置,使用光的往返时间检测与目标的距离,其特征在于,所述光测距装置具备:

2.根据权利要求1所述的光测距装置,其特征在于,

3.根据权利要求1或2所述的光测距装置,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的光测距装置,其特征在于,

5.根据权利要求1或2所述的光测距装置,其特征在于,

6.根据权利要求1或2所述的光测距装置,其特征在于,

7.根据权利要求6所述的光测距装置,其特征在于,

8.根据权利要求1或2所述的光测距装置,其特征在于,

9.根据权利要求1所述的光测距装置,其特征在...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种光测距装置,使用光的往返时间检测与目标的距离,其特征在于,所述光测距装置具备:

2.根据权利要求1所述的光测距装置,其特征在于,

3.根据权利要求1或2所述的光测距装置,其特征在于,

4.根据权利要求3所述的光测距装置,其特征在于,

5.根据权利要求1或2所述的光测距装置,其特征在于,

6.根据权利要求1或2所述的光测距装置,其特征在于,

7.根据权利要求6所述的光测距装置,其特征在于,

8.根据权利要求1或2所述的光测距装置,其特征在于,

9.根据权利要求1所述的光测距装置,其特征在于,

10.根据权利要求1所述的光测距装置,其特征在于,

...

【专利技术属性】
技术研发人员:新村康介
申请(专利权)人:株式会社电装
类型:发明
国别省市:

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